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半导体材料论文.doc

上传人:ttteee8 2019/9/24 文件大小:87 KB

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半导体材料论文.doc

文档介绍

文档介绍::..1半导体材料的战略地位上世纪中叶,单晶硅和半导休晶休管的发明及其硅集成电路的研制成功,导致了电子工业革命;上世纪70年代初石英光导纤维材料和GaAs激光器的发明,促进了光纤通信技术迅速发展并逐步形成了高新技术产业,使人类进入了信息时代。超晶格概念的提出及其半导体超晶格、量了阱材料的研制成功,彻底改变了光电器件的设计思想,使半导体器件的设计与制造从“杂质工程”发展到“能带工程”。纳米科学技术的发展和应用,将使人类能从原子、分子或纳米尺度水平上控制、操纵和制造功能强大的新型器件与电路,必将深刻地影响着世界的政治、经济格局和军事对抗的形式,彻底改变人们的生活方式。,降低成本看,增大直拉硅(CZ-Si)单晶的直径和减小微缺陷的密度仍是今后CZ-Si发展的总趋势。目前直径为8英寸(200mm)的Si单晶已实现大规模工业生产,基于直径为12英寸(300IIUH)硅片的集成电路(IC's)技术正处在由实验室向工业生产转变中。目前300mm,,300mm,0・13um工艺生产线也将在2003年完成评估。18英寸重达414公斤的硅单晶和18英寸的硅园片已在实验室研制成功,直径27英寸硅单品研制也正在积极筹划屮。从进-步提高硅IC的速度和集成度看,研制适合于硅深亚微米乃至纳米工艺所需的大直径硅外延片会成为硅材料发展的主流。另外,SOI材料,包括智能剥离(Smartcut)和SIMOX材料等也发展很快。目前,直径8英寸的硅外延片和S01材料已研制成功,更大尺寸的片材也在开发屮。理论分析指tB30nm左右将是硅MOS集成电路线宽的“极限”尺寸。这不仅是指量子尺寸效应对现冇器件特性影响所带來的物理限制和光刻技术的限制问题,更重要的是将受硅、Si020身性质的限制。尽管人们止在积极寻找高K介电绝缘材料(如用Si3N4等来替代Si02),低K介电互连材料,用Cu代替A1引线以及采用系统集成芯片技术等来提高ULSI的集成度、运算速度和功能,但硅将最终难以满足人类不断的对更大信息量需求。为此,人们除寻求基于全新原理的量子计算和DNA生物计算等之外,还把目光放在以GMs、InP为基的化合物半导体材料,特别是二维超晶格、量了阱,一维量了线与零维量了点材料和可与硅平而工艺兼容GeSi合金材料等,这也是目前半导体材料研发的重点。,它们都是直接带隙材料,具有电了饱和漂移速度高,耐高温,抗辐照等特点;在超高速、超高频、低功耗、低噪音器件和电路,特别在光电子器件和光电集成方面占有独特的优势。目前,世界GqAs单晶的总年产量已超过200吨,其中以低位错密度的垂直梯度凝固法(VGF)和水平(HB)方法生长的2-3英寸的导电GaAs衬底材料为主;近年来,为满足高速移动通信的迫切需求,大直径(4,6和8英寸)的SI-GaAs发展很快。美国莫托罗拉公司正在筹建6英寸的SI-GaAs集成电路生产线。hP具冇比GMs更优越的高频性能,发展的速度更快,但研制直径3英寸以上大直径的InP单晶的关键技术尚未完全突破,价格居高不下。GaAs和InP单晶的