文档介绍：Contents目录
Introduction
The Model
Capabilities
Menus
File Menu
Edit Menu
Options Menu
Modify Menu
Environment
Stack Formula
Layers-Front/Back
Groups
Targets-Discrete
Targets-Continuous
Comments
Variable Materials
Environments
Materials
Substrates
Illuminants
Detectors
Distributions
Run Menu
Analyze Only
Optimize Design
Global Search
Compute EFI
Compute Sensitivity
Compute Cone-Angle Average
Compute Monitor Curve
Compute Layer Sensitivity
Set Analysis Parameters
Set Optimization Parameters
Set Global Search Parameters
Set EFI Parameters
Set Sensitivity Parameters
Set Cone-Angle Parameters
Set Monitoring Parameters
Results Menu
Show Table
Show Plot
Show EFI Plot
Show Color Chart
Show Monitor Chart
Saving Results
Save as Illuminant
Miscellaneous Menu
Realitives
Distribution Windows
Set Table Parameters
Set Plot Parameters
Layer Window Options
Compute Equivalent Index
Compute Equivalent Stack
Target(Discrete) Window
Configuring TFCalc
Introduction(说明)
这是TFCalc薄膜设计软件。除了缺少图表说明外,它贴切得遵循TFCalc说明书的第一、二所提供的文件。你可以在TFCalc窗口或对话框内按F1来迅速获得此帮助。
The Model(范例) GO TO TOP
存储在光源数据库内的光源是以波长对光强的方式给出的。。基底和基底内部、外部的介质材料可在基底数据库中选择。基底可以被看作是一大厚度层,它的厚度可以单独指定。注意的是基底可以是比如说空气之类的物质。基底和出射介质都有可能是吸收介质。前层膜与后层膜之间的材料是从材料库中选择的或者从可变材料库中选取的。现在的膜层极限是5000层。基底和材料的光学属性被存储在表格或反映反射率对波长关系的离散公式里。
现在可以确定光从哪一个面入射:前或后层。也就是说,光可以从膜层的任意一个面入射。要获得这方面的细节还要看环境参量对话框。
这样第一层是紧靠基底的一层。
注意:如果基底和出射介质不同或有后层膜,反射率计算时就要考虑到后层膜。如果你想避免如此,出射介质就必须同基底材料一样而且没有后层膜。
Capabilities(性能) GO TO TOP
TFCalc软件可以使你分析设计多层薄膜,他们的一些功能如下:
它可以将反射率、透过率、吸收率、光密度、损失、颜色、亮度、PSI、基于反射后投射的相移和电场强度计算并绘制表格。
它可以分析膜系设计同生产之间的误差。优化可以使误差最小化。膜层灵敏度可以计算并演示出来。
可以在一系列圆锥角(就像集中的光束一样)和用户定义的辐射发散角内分析一个膜系。
镀膜所用膜料、基底和外部介质可能是弥散或者吸收的,而内部介质却是弥散的。弥散公式可以用来给定膜料和基底的相关系数。
基底或膜层的折射率(N和K)可以由测定的数据来确定。光源要详细说明。薄膜的折射或投射可以储存作为光源,所以滤光器的输出可作为另一个滤光器的输入。同样,黑体光源可以由此产生。
下面详细说明探测器的功能:
基底有有限的厚度;折射和透射计算时要考虑到基底后表面和基底内部的任何衰减。
一个膜系最多可以有5000层150种材料组成。
膜堆以公式的形式出现,例如:H(LH)^5
膜层可以被安排在组内,可以整组优化。
全球搜索用来寻找最好的设计方案而不仅仅是