文档介绍：技术文件
技术文件名称: EMI测试基本知识介绍
技术文件编号:
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共 17 页
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深圳市中兴通讯股份有限公司
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文件编号
版本号
拟制人/
修改人
拟制/修改日期
更改理由
主要更改内容
(写要点即可)
宋昌元
注:文件第一次拟制时,“更改理由”、“主要更改内容”栏写“无”。
目录
1 EMI干扰 5
EMI分类 5
差模和共模干扰 6
2 测量系统的架构 7
EMI测量系统 7
EMS测量系统 7
3 测试仪器 7
EMI测试接收机EMI Test Receiver 7
阻抗稳定网络ISN 8
耦合-去耦网络CDN(Couple and works) 10
干扰分离器的方法原理 11
4 可靠性室EMI测试 14
相关测试设备介绍 14
传导骚扰测试框图 16
传导抗扰度试验 17
5 参考文献 17
摘要:
主要介绍EMI相关的基本概念、测试系统的组成、测试仪器的基本原理、可靠性室相关的测试仪器和测试方法。
关键词:
EMI ic Interference
ISN Impedance work
CDN Couple and works
AMN Artificial work
DM Differential mode
mon mode
EMI测试基本知识介绍
EMI干扰
EMI分类
根据传导模式的不同EMI主要分为:辐射性骚扰(Radiated Emission)和传导性骚扰(Conducted Emission)。
辐射性EMI通过设备外壳的缝隙、开孔或其他缺口泄漏直接由空间传播,无须任何传输介质;主要为电路通电后,由于电磁感应效应所产生的电磁辐射发射所形成的电磁干扰,集中表现在频率的高端;一般用屏蔽(Shielding)、接地(Grounding)等方式解决。对辐射传导EMI解决方式归纳为以下几种:在干扰源加LC滤波回路;在I/O端加上去耦电容到地;用屏蔽隔离(Shielding)的方式把电磁波围覆在屏蔽罩内;尽量将PCB的地面积扩张;产品内部尽量少使用排线或实体线;产品内部的实体线尽量做成绞线以抑制杂讯幅射,同时在排线的I/O端加上去耦电容;mon Mode Filter);遵循一定的模拟和数字电路布线原则。
传导性EMI(conducted)是指部分的电磁(射频)能量通过外部缆线(cable)、电源线、I/O互连介面,形成传导波(propagation wave)被传送出去,经过电源线传输干扰的,对共电源的设备产生干扰,导致设备功能异常,集中表现在频率的低端;对于传导性EMI的抑制,首先、需要对电子元件产生的传导性EMI作有效的测量,再依据结果选择适当的元件值设计滤波器来加以防治。
根据EMI干扰的形成可以分为:差模DM(Differential mode)mon mode)。差模也称作对称模式(symmetric mode)或正常模式(normal mode);而共模也称作不对称模式(asymmetric mode)或接地泄漏模式(ground leakage mode)。mon-Mode Coupling)和电磁场对导线的共模干扰(Field to cable/mon-Mode Coupling),前者是因杂扰产生源与被干扰电路间共用同一接地电阻所产生的共模干扰,解决方法可由实行地的切割来避免共地干扰问题;后者则为高电磁能量所形成的电磁场对设备间之配线所造成的干扰,可由屏蔽隔离(Shielding)的方法来处理场对线的干扰问题。而差模干扰,常见的是导线对导线的差模干扰(Cable to Cable Differential-Mode Coupling),干扰途径为某一导线内的干扰信号感染到其他导线而馈入被干扰电路,属于近场干扰的一种,可通过加宽线与线之间的距离来处理此类干扰问题。
差模和共模干扰
图1差模和共模干扰
如图1(a)所示,差模干扰是当两条电源供应线路的电流方向互为相反时发生;如图1(b)所示,共模干扰是当所有的电源供应线路的电流方向相同时发生。一般,差模信号通常是有用的,承载有用的数据信息;而共模信号是不要的干扰信号或是差模电路的产生的干扰,这正是EMC的最大难题。从图1中,可以清楚发现,共模干扰的发生大多数是因为杂散电容(stray capacitor)的不当接地所造成的。这也是为何共模也称作接地泄漏模式的原因。
图2 差模和共模干扰电路
如图2所示为