文档介绍：该【泵浦光照射在样品表面上的平均功率选择的大致标准 】是由【资料之王】上传分享，文档一共【5】页，该文档可以免费在线阅读，需要了解更多关于【泵浦光照射在样品表面上的平均功率选择的大致标准 】的内容，可以使用淘豆网的站内搜索功能，选择自己适合的文档，以下文字是截取该文章内的部分文字，如需要获得完整电子版，请下载此文档到您的设备，方便您编辑和打印。T/CSMT-00*—20xx附录A泵浦光照射在样品表面上的平均功率选择的大致标准测试过程中,照射在金属薄膜表面的泵浦激光平均能量密度(J/cm2)计算公式如下:4??????=2?????????其中,????为泵浦激光平均功率,单位为W;为泵浦激光频率,单位为;????Hz??为脉冲激光照射在样品表面上的光束直径,单位为cm。通常情况下,测试过程中泵浦激光功率选取与示波器交流信号的最大值和示波器直流信号的比值??????????????有关:在测试金薄膜时,??????????????应≤;在测试铝薄膜时,??????????????应≤。下表为对于泵浦光照射在金或铝薄膜样品表面上的平均功率选择的大致标准:表A1:对于金-衬底结构,衬底热导率大致为150W/mK,界面热导在20-300MW/m2K变化,其照射在金薄膜表面的激光平均能量密度上限:样品表面平均能量密脉宽全宽(ns)度(J/cm2)+++++++++++++++4(MW/m2K)+++++4表A2:对于金-衬底结构,金与衬底之间界面热导大致为100MW/m2K,衬底热导率在5-280W/mK变化,其照射在金薄膜表面的激光平均能量密度上限:样品表面平均能量密脉宽全宽(ns)度(J/cm2)+++++++++++++++4(W/mK)+++++4表A3:对于铝-衬底结构,衬底热导率大致为150W/mK,界面热导在20-300MW/m2K变化,其照射在铝薄膜表面的激光平均能量密度上限:样品表面平均能量密脉宽全宽(ns)度(J/cm2)+++++++++++++++5(MW/m2K)+++++5表A4:对于铝-衬底结构,金与衬底之间界面热导大致为100MW/m2K,衬底热导率在5-280W/mK变化,其照射在铝薄膜表面的激光平均能量密度上限:样品表面平均能量密脉宽全宽(ns)12T/CSMT-00*—20xx度(J/cm2)+++++++++++++++5(W/mK)+++++513T/CSMT-00*—20xx附录B半导体材料的常温下的比热容和密度作为参考比热容c密度ρJ/kg*Kkg/m3Au12919300Al8972700Al2O37783980GaN4306150Ga2O34855880Si7002200SiC6903260GaAs3305320Diamond5203515AlN6003230Ge3105323GaP4304140InAs2505680GaSb2505610InSb2005770InP3104810InN3206810……14T/CSMT-00*—20xx附录C一种单探测激光泵浦-探测瞬态热反射测试系统单探测激光泵浦-探测瞬态热反射测试系统,波长为532nm或785nm。当波长设计为532nm时,用于表面具有金薄膜的样品测试;当波长设计为785nm时,用于表面具有铝薄膜的样品测试。(或铝薄膜)样品的单探测激光泵浦-探测瞬态热反射测试系统15T/CSMT-00*—20xx附录D一种多探测激光泵浦-探测瞬态热反射测试系统多探测激光泵浦-探测瞬态热反射测试系统,波长为532nm和785nm的连续激光同时作为探测激光,实现金薄膜和铝薄膜样品切换测试。-探测瞬态热反射测试系统16