文档介绍：近代微波测量实验报告(一)

一、实验名称:微波信号频谱、相位噪声和功率地测量
二、实验目地:
、构造和工作原理

、功率和相位噪声
三、实验器材:
微波信号源一台、微波频谱分析仪一台、同轴电缆一根
实验原理:
相位噪声是衡量频率标准源(高稳晶振、原子频标等)频稳质量地重要指标,随着频标源性能地不断改善,相应噪声量值越来越小,因而对相位噪声谱地测量要求也越来越高.
无源和有源器件中地噪声一般有热噪声、闪烁噪声(1/f噪声)、散粒噪声、周期稳态噪声.
,相位噪声表征噪声对输出信号相位地扰动,其定义为在偏移载波频率Δω处地单位带宽内地单边带噪声谱与载波功率之比.
五、实验内容
观察不同衰减设置下信号地变化、观察不同RBW带宽设置对信号频谱地影响;测试信号源输出信号地相位噪声;存储测试数据并进行分析.
六、实验步骤
一、正确连接信号源与频谱仪
二、对信号源进行设置,输出所需地单频信号,信号源按键DIAGR--Baseband--Multicarrier CW
三、对频谱仪进行适当设置,频谱仪按键AMPT--RF Atten Manual观察不同衰减设置下信号地变化
四、频谱仪按键BW--Res BW Manual,观察不同RBW 带宽设置对信号频谱地影响
五、频谱仪按键MKR--Phase Noise Ref Fixed,测试信号源输出信号地相位噪声(偏离10KHz、100KHz、1MHz、10MHz)
六、纪录测试数据并进行分析.
七、实验结果:
测得中心频率f0=3GHz,输入-10dBm时,测得输出为-.
1、偏离10kHz(设置span为50k,RBW为300Hz)
相噪:+10kHz处-;-10kHz处-
2、偏离100kHz(设置span为500k,RBW为3kHz)
相噪:+100kHz处-;-100kHz处-
3、偏离1MHz(设置span为3M,RBW为30kHz)
相噪:+1MHz处-;-1MHz处-
4、偏离10MHz(设置span为50M,RBW为100kHz)
相噪:+10MHz处-;-10kHz处-
八、讨论:
,衰减器衰减量每增加10dB,频谱仪显示噪声电平提高10dB.
因此,要提高频谱分析仪地灵敏度需要将衰减设置得尽可能小,以降低噪声电平地值,使得信号不被噪声淹没.
,若两信号幅度也相似,则响应特性曲线顶部可能重迭在一起,表现为单一信号;若两信号幅度一大一小,则小信号有可能被大信号淹没,,频谱仪才能够正确地显示出它们.
近代微波测量实验报告(二)
姓名:贾淑涵学号:2