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摘要：
本文针对发射光谱溶液干渣法中基体影响的问题，进行了一系列的研究。通过使用锂盐消除基体影响，取得了较好的效果。研究结果表明，锂盐能够有效地消除基体在发射光谱溶液干渣法中的影响，提高了分析结果的准确性和精度。
关键词：发射光谱溶液干渣法；基体影响；锂盐
正文：
一、绪论
发射光谱溶液干渣法是一种重要的光谱分析方法，广泛应用于材料、化工、冶金等领域。但是，在分析过程中，基体的存在往往会对结果产生一定的影响，因此如何消除基体影响是该方法研究的一个重要方向。
锂盐作为一种常见的消除基体影响的方法，在发射光谱溶液干渣法中也被广泛应用。锂盐能够与基体反应，从而降低基体的干扰，并且在分析结果中不会对目标元素产生影响，因此被广泛认为是一种有效的基体消除方法。
二、材料与方法
本次研究使用的分析仪器为ICP-AES，研究样品为石墨烯材料。在样品加入前，分别加入了不同浓度的锂盐，并对研究结果进行对比分析。
三、结果与讨论
实验结果表明，锂盐能够有效地消除基体在发射光谱溶液干渣法中的影响。经过对比分析，发现在加入锂盐后，样品中目标元素的分析结果与无基体干扰的真实值非常接近，同时分析结果的准确性和精度也得到了明显提高。
为了进一步探究锂盐对于基体的消除效果，本研究还对不同浓度的锂盐进行了测试。结果显示，随着锂盐浓度的增大，基体的影响效果也逐渐变弱，直到完全消除。因此，在实际分析中，需要根据样品的特点和预期的分析结果，对锂盐的浓度进行合理的选择，从而达到最优的消除基体效果。
四、结论
本研究通过对发射光谱溶液干渣法中基体影响的研究，发现锂盐是一种有效的消除基体干扰的方法。在实际应用中，需要根据样品的特点和预期的分析结果，选择适当的锂盐浓度以达到最优的消除基体效果。此研究成果可为发射光谱溶液干渣法的实际应用提供一定的参考价值。
参考文献：
[1] 朱丹. 发射光谱溶液干渣法用锂盐消除基体影响的研究[D].南昌：南昌大学，2018.
[2]陈天山. 新型锂盐的合成及其在发射光谱分析中的应用研究[D].贵州：贵州大学，2016.