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摘要：
本次研究使用扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）技术，研究了钼化合物的Mo K吸收边的临界能。实验结果表明，在钼化合物的Mo K吸收边临界能附近，Mo原子与周围原子间存在着一定的相互作用，形成了稳定的化学键。
引言：
扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）技术是研究固体材料微观结构和原子间相互作用的重要方法之一。它通过测量吸收材料对特定能量的X射线的吸收能力，可以了解材料的元素、电荷和性质等方面的信息。在化学上，EXAFS技术可以用来研究分子间和分子内的原子间距离、配位数和化学键等信息，因此在材料科学、生物科学和催化化学等领域中得到了广泛应用。
钼（Mo）是一种重要的金属元素，常用于生产合金、陶瓷和催化剂等。钼化合物具有多种应用，如光学加工、电池和分子筛等。因此研究钼化合物的微观结构和原子间相互作用对于了解钼化合物的性质和应用具有重要意义。本次研究使用EXAFS技术，研究了钼化合物的Mo K吸收边临界能。
实验方法：
实验使用了BL14W1光束线进行Mo K EXAFS谱测量。具体测量过程如下：
首先选取原始钼化合物样品并将其磨粉，然后将样品散播在有机玻璃板上。接下来将有机玻璃板放置在真空下面进行EXAFS谱测量。在谱测量之前，还需要将sodium acetate和putrescine加入样品中。其中sodium acetate是一个螯合剂，能够降低Mo原子的活化能。Putrescine是一种溶液裂解产物，可帮助消除钼化合物中的极性效应。
结果与分析：
keV。图1展示了钼化合物Mo K吸收边的EXAFS谱。可以看到，在边缘的前缘附近存在一个明显的峰，对应于Mo原子与周围元素的相互作用，主要包括与氧原子和硫原子的化学键。这表明在Mo K吸收边的临界能附近，Mo原子与周围原子之间存在着一定的相互作用，形成了稳定的 Mo-O 和 Mo-S 化学键。
图1 钼化合物Mo K吸收边的EXAFS谱
此外，观察到Mo吸收边的后方存在一个峰值，对应于Mo原子与它周围的其他原子发生的反射。这个反射峰的出现意味着Mo在钼化合物中有多种协同化学键，包括与氮、碳和其他元素的化学键。这证实了钼化合物具有复杂的化学结构，这对于了解钼化合物材料性质和应用非常重要。
结论：
本次研究使用EXAFS技术，研究了钼化合物的Mo K吸收边的临界能。结果表明，在Mo原子的吸收边临界能附近，Mo原子与周围原子间存在着一定的相互作用，形成了稳定的 Mo-O 和 Mo-S 化学键。此外，Mo在钼化合物中与其他原子也发生了协同化学键。这些结果可以对于了解钼化合物材料性质和应用具有重要意义。希望这项研究能够为钼化合物的更深入研究提供一个基础参考。