文档介绍：一、电路介绍:
这里介绍的人体反应速度测试器由
4个数字电路芯片和
10只LED
发光二极管等组成,可
 
以测出你对信号的反应能力,并将反应能力分为
8段,段数越高反应速度越快,经常进行反映测试训练,
可以逐步提高你的反应速度。
反应测试器由开机延时、测试信号灯、时钟脉冲、减法计数、
启动显示、停止控制等部分组成。
反应速度测试器
本电路主要由3种共4只CMOS数字集成电路构成。
其中U1是双4位静态移位寄存器4015,其内部含有2组独立的
4位串入一并出移位寄存器,在本电路中将两组级联使用。
U2是四2输入端或非门电路4011,U3、U4是
6位反相器,具有较大的驱动电流能力,可以直接驱动发光二极管
二、电路的工作过程:
电源开关闭合后,LED10电源指示发光管点亮,之后延迟数秒,测试信号灯
LED1点亮,减法计数器电路在时钟脉冲的作用下开始递减,由
LED2---LED9组成的测试显示发光管依次熄灭,
在这个过程中,
当被测试人按下停止按钮K2时,
时钟脉冲停振,
减法计数器处于保持状态,
LED2
――
LED9
的熄灭个数将记录为被测试者的反应速度。
三、电路的工作原理:
由U4E、U4F、R16、R17、C4等组成多谐振荡器,做为时钟脉冲,其振荡周
×R17×C4,按照图中参数周期约为44ms,
U2组成8位右移寄存器,U1B、R1、C1等组成开机延迟电路,当刚闭合电源开关K1
时,U1B的输出端为“1”,在时钟脉冲的作用下,U2的8位寄存单元迅速全为“1”
,几秒后,U1B的输出端变为“0”,经过U3A、U3B两级反向后,驱动测试信号灯
LED1点亮,同时U2的8位寄存单元将在时钟脉冲的作用下,从左到右依次变为“
0”,当被测试者按下停止按钮K2时,由U1C、U1D组成的RS触发器置“0”,使U4E
、U4F停振,U2处于保持状态,结果通过U3C----U4D驱动发光二极管显示。这里的
U1A的作用是只有当测试信号灯LED1点亮后,按下停止按钮K2才能有效,
四、焊接注意事项:
从正面看集成电路芯片,有半圆缺口的一边朝左,按照印板上的标识,分别将芯
片插在印板上。焊接CMOS数字集成电路时要注意,电烙铁要可靠接地,
或者拔下电源插头用余热焊接,防止感应静电击穿CMOS芯片。印制板上有6根跨接线,
分别用J1—J6表示,可用剪下的多余元件引脚
来焊装。发光二极管引脚较长的一级是正极,外圆带有一小段直线段的是负极,
可按照印板上的字符标识安装。
IN4148二极管管身带有黑色环的一端是负极。C1、C5
是电解电容,引脚较短的一端是负极,外皮
上一般也有“-”号标识。电池盒的引线按照印板标识的“+”、
“-”极性正确连接,切勿接反。
全部元件焊装完毕后,
还要仔细检查一下,元件是否都已正确安装,
焊点是否牢固,焊盘、走线之间是否存在短
五、
通电测试:
全面检查完毕后,就可以接上电池进行测试了。
闭合电源开关K1,发光二极管LED10点亮,表明电源已接通,紧接着LED2-LED9
被迅速点亮,延迟几秒后,LED1点亮,表示测试开始,LED2-LED9迅速依次熄灭。
此时按下停止按钮K2,则LED2-LED9立即停止熄灭,保留状态。由于多谐振荡器
的周期大约为44ms,因此被测试人的反应速度为44ms×4=176ms
,。如果电路工作不
正常,请再仔细检查装配是否都正确,按照工作过程,比照原理图,
分级分段检查故障点。
 实际上通过改变R17或C4
的参数,可以调整多谐振荡器的频率,即可改变测试速度,已增加或降低
测试难度。改变R1、C1
的参宿阿可以改变通电后,
测试延迟开始的时间,让被测试者不好掌握测试规律,
提高测试的准确性和趣味性。当需要第二次测试时,现将电源开关
K1
关闭数秒后,再接通,进行新的
plementary Metal Oxide Semiconductor),互补金属氧化物半导体,
电压控制的一种放大器件。是组成CMOS数字集成电路的基本单元。
在计算机领域,CMOS常指保存计算机基本启动信息
(如日期、时间、启动设置等)的芯片。有时人们会把CMOS和BIOS混称,
其实CMOS是主板上的一块可读写的ROM芯片,是用来保存BIOS的硬件配置
和用户对某些参数的设定。CMOS可由主板的电池供电,即使系统掉电,
信息也不会丢失。 CMOS制造工艺也被应用于制作数码影像器材的感光元件
(常见的有TTL和CMOS),尤其是片幅规格较大的单反数码相机。
虽然在用途上与过去CMOS电路主要作为固件或计算工具的用途非常不同,
但基本上它仍然是采取CMOS的工艺,只是将纯粹逻辑运算的功能转变成
接收外界光线后转化为电能,再透过芯片上的模-数转换器(ADC)
将获得的影像讯