文档介绍：第四章多晶体分析方法
粉末照相法
X射线衍射仪
衍射花样标定
点阵常数精确测定
4-1 粉末照相法
多晶体粉末的衍射花样可以用照相法和衍射仪法获得。
照相法根据试样和底片的相对位置不同可分为三种:
德拜-谢乐法(Debye-scherrer method):底片位于相机圆筒内表面,试样位于中心轴上;
聚焦照相法(focusing method):底片、试样、X射线源均位于圆周上;
针孔法(pinhole method):底片为平板形与X射线束垂直放置,试样放在二者之间适当位置。
德拜-谢乐法,简称德拜法,是照相法中最基本的方法。本节主要简介这一方法。
德拜照相法
德拜法又称德拜-谢乐法。德拜相机结构如图。
底片的安装有三种方法(如图):
正装法底片中心安放在承光管位置。常用于物相分析。
反装法底片中心孔安放在光阑位置。可用于点阵常数的测定。
不对称装法底片上有两个孔,分别安放在光阑和承光管位置。该法可直接由底片上测算出圆筒底片的曲率半径,因此可以校正由于底片收缩、试样偏心以及相机半径不准确所产生的误差,它适用于点阵常数的精确测定。
角的计算如图
4-2 X射线衍射仪
X射线衍射仪是按着晶体对X射线衍射的几何原理设计制造的衍射实验仪器。
1912年布拉格()最先使用电离室探测X射线信息的装置,即最原始的X射线衍射仪。
1943年弗里德曼()设计出近代X射线衍射仪。
50年代X射线衍射仪得到了普及应用。
随着科学技术的发展,衍射仪向高稳定、高分辨、多功能、全自动的联合组机方向发展。
一、X射线仪的基本组成
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X射线仪结构框图。
二、X射线衍射仪的原理
在测试过程,由X射线管发射出的X射线照射到试样上产生衍射现象;
用辐射探测器接收衍射线的X射线光子,经测量电路放大处理后在显示或记录装置上给出精确的衍射线位置、强度和线形等衍射信息;
这些衍射信息作为各种实际应用问题的原始数据。