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目前射线检测主要有X射线检测、 射线检测、
高能X射线检测和中子射线检测。
X射线、 射线的产生和性质
一、 X射线的产生
由X射线管产生，其产生的X射线按其波长分为连续X射线和标识X射线。
射线检测中，X射线管所产生的都属于连续X射线。
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X射线管及其工作原理
～u
15～500kv 高压电源
－
＋
高压电缆
阳极靶
电子流
玻壳管
阴极罩
灯丝
X射线
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连续X射线的最短波长为：
式中，U——射线管电压，kV
连续射线管的转换效率为:
式中， ——比例常数，为10-6；
z——阳极靶材料原子序数，钨靶z=74
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二、 射线的产生
γ射线是由放射性同位素的核反应、核衰变或裂变放射出的。常用的放射性同位素有60Co、192Ir等，它们是不稳定的同位素，能自发的放射出某种粒子（α、β等）或γ射线后变成另一种不同的原子核，这种现象称为衰变。 其衰变速度可用半衰期反映。
半衰期是指放射元素原子核数目因衰变减少到原来原子核数目一半所需要的时间。
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γ射线的半衰期
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γ射线与X射线检测的不同点是： γ射线源无论使用与不适用其能量都在自然地逐渐减弱。
三、射线的性质
X射线、 γ射线同是电磁波，后者波长短、能量高，穿透能力大。
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如图所示，若射线原有强度为J0，透过工件和缺陷后的射线强度分别为Jδ和Jx，胶片接受的射线强度不同，冲洗后可明显地反映出黑度差部位，即能辨别出缺陷的形态、位置等。
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透过后射线强度之比为
Jx／ Jδ=eμx
式中 μ——衰减系数；
χ——透照方向上的缺陷尺寸；
可见沿射线透照方向的缺陷尺寸χ越大，
衰减系数μ越大，则有无缺陷处的强度差eμx
越大，Jx／ Jδ值越大，在胶片上的黑度差越
大，越易发现缺陷所在。
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二、射线检测准备
在射线检测之前，首先要了解被检工件的检测要求、验收标准，了解其结构特点、材质、制造工艺过程，结合实际条件选择合适的射线检测设备、附件，如射线源、胶片、增感屏、象质计等，为制定必要的检测工艺、方法做好准备工作。
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①射线源的选择
选择射线源应考虑射线能量，能量大，穿透力强，透照厚度增大，可以穿透衰减系数较大的材料。生产中首先要保证设备的能量能够穿透被检工件，但能量过大不仅浪费，而且会降低胶片的黑度反差效果等。因此，在曝光时间许可的条件下，应尽量采用较低的射线能量。
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