文档介绍：第13章
设计自动测试系统的几个问题
电子信息及电气工程系
13-1 传感器的非线性处理
1、硬件线性化处理方法
1)简单线性化方法:
“以畸治畸”
补偿。
2)折线法:
电路分析
2、软件线性化处理方法
1)计算法
2)查表法
3)插值法
4)结合计算查表法,形成插值法。
取 x 值
x < x1
取 k0, x0, yo
x < x2
取 k1, x1, y1
x < xn
取 kn-1, xn-1, yn-1
输出处理
y = yi + ki(x- xi)
13-2 温度补偿
1、热敏电阻对应变传感器的温度补偿
T↑→ K↓→U0 `↓→U0 ↓
→ Rt↓→U0 ↑
2)工作片:承受应力
补偿片:不受应力
U0不变
R2
R3
R4
U0
U
Rt
R1
t
R0
6、反馈式温度补偿
目的:使系统零点、灵敏度不变。
方法:检测出系统零点、灵敏度的变化,
通过反馈系统进行调整,使其保持
在给定值上。
适用对象:复杂温度敏感参数的综合补偿
13-4 传感器的可靠性与抗
干扰问题
一、传感器的可靠性问题
1、可靠性:在规定时间内保持原有技术性能的能力。
2、自动测试系统的寿命与平均无故障时间
3、提高可靠性的措施
1)采用高可靠性元件,提高工艺质量
2) 利用故障发
生规律:
人工老化筛选
出厂前试机
t
λ(t)
3)采用冗余系统(双机热/冷备用)
二、抗干扰技术
1、差模干扰、共模干扰
2、外来干扰、内部干扰
3、消除外来干扰的措施:屏蔽加正确的接地
消除内部干扰的措施:变压器屏蔽