实验一 集成逻辑门电路逻辑功能的测试.ppt

文档介绍：实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试
一、实验目的
1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方
法。
2、掌握各种TTL门电路的逻辑功能。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱 1台
2、元器件:
74LS08(二输入端四与门) 1片
74LS32(二输入端四或门) 1片
74LS04(六反相器) 1片
74LS00(二输入端四与非门) 1片
74LS20(四输入端二与非门) 1片
74LS86(二输入端四异或门) 1片
CD4002(四输入端二或非门) 1片
导线若干
三、实验内容
(二输入端四与门)的逻辑功能
(二输入端四或门)的逻辑功能
(六反相器)的逻辑功能
(二输入端四与非门)的逻辑功能
(四输入端二与非门)的逻辑功能
(二输入端四异或门)的逻辑功能
(四输入端二或非门)的逻辑功能
集成块实物图

将74LS08芯片正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。
实物接线图

将74LS32正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。

将74LS04正确插入面包板,并注意识别第1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为第1脚)。按表一要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。