器件集成与非门电路参数的测验实验报告.doc

文档介绍：集成与非门电路参数的测试
实验目的
TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试
TTL和CMOS与非门的主要参数及测试方法
实验器件
HBE硬件基础电路实验箱、双踪示波器、数字万用表
元器件:74LS00、CD4011
实验内容
测试与非门74LS00的电压传输特性
测量电路原理如图所示,调节电位器RW,使Vi从0V向5V变化,逐点测试Vi和Vo,列表记录Vi和Vo值。根据测试数据画出门电路的传输特性曲线。
+5V
+5V
电路连线:
14
1
3
&
2
+
Vi
-
V
+
Vo
-
V
7
实验数据:
Vi









Vo










传输特性曲线:
Vo/V

4

3

2

1

0 Vi/V
原理:
根据调节上拉电阻接入电路中的电阻值来调节Vo和Vi的大小从而得出关系曲线。
VDD +5V
COMS与非门电压传输特性曲线与TTL与非门电压传输特性曲线测试方法基本一样。这是将不用的输入端接到电源++VDD(+5V)上即可,不得悬空。下图为用示波器X-Y方式的测试电路,输入信号电压Vi应为+5V正弦直流电压。
&
14
1
CH1
Vi +
3
2
CH2
7
电路连线:如上图。
示波器显示:
原理:利用信号发生器产生一个连续信号在电路图中的Vi端输入到电路中,再用示波器的X-Y方式显示电路中的CH1和CH2信号的关系图像,S与非门电压传输特性曲线。
实验心得
此次实验内容很少,但任然花了好长时间才做出来,而且还是在老师帮助下。示波器调节比较难弄,连线也有些纠结,通过此次实验我更加深入得了解了示波器的使用,初步掌握了TTL和CMOS与非门的电压传输特性的测试。