文档介绍：过程稳定性评估:X-R控制图
评估工序: 产品名称: 产品规格: 产品图号:
操作人员: 产品批号: 生产机台: 评估日期:
测量仪器: 仪器编号: 测量单位: 测量人员:
测量特性: 标准值: 标准上限: 标准下限:
样本子组 08:00 08:30 09:00 09:30 10:00 10:30 11:00 11:30 12:00 12:30 13:00 13:30 14:00 14:30 15:00 15:30 16:00 16:30 17:00 17:30 18:00 18:30 19:00 19:30
样本1
样本2
样本3
样本4
样本5
子组均值#DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
子组极差
均值 X= #DIV/0! 样本 A2 d2 D3 D4 控制上限:UCL=X+A2×R= #DIV/0!
2
极差 R= σ=R/d2= 3 控制下限:LCL=X-A2×R= #DIV/0!
4
Cpu=(USL-均值)/(3σ)= #DIV/0! 5 副图:UCL=D4*R=
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Cpl=(均值-LSL)/(3σ)= #DIV/0! 7 副图:LCL=D3*R= 0
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过程能力指数:CPK=min(Cpu,Cpl)= #DIV/0! 9
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评估结论#DIV/0!
子组均值#DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0! #DIV/0!
子组极差 0