文档介绍：操作指南
目录
一、操作指南
二、产品介绍
三、维护保养
四、售后服务
五、测试容量清单
重要提示:
±15%、50HZ交流电源。
、串行EEPROM、FLASHROM、单片机片内ROM器件进行好坏判别或写入时,将会改变被测器件内部的数据,因此对正在使用中的这类器件进行好坏判别前,最好能先备份;而对这类器件进行数据显示或读入、比较时则不会改变数据。
、FLASHROM、串行EEPROM、运算放大器、三端稳压器等器件不能进行型号识别。
“好坏判别”键时,若显示“1—2”或“OU--数字”或“VCC—数字”时,按要求放好被测器件后,须再次按下“好坏判别”键。光耦合器件测试时会显示“1—2”,请参阅第7页的说明。
,首先要确认测试电压与被测器件是否匹配,否则有可能损坏被测
器件。、CMOS45、数码管、光耦系列
可选,。。运放和三端稳压器的测试电压是自动控制的。
,应尽快将光盘中的文件复制到微机中。
,其它测试时无须连接。
一、操作指南
请你小心取出ICT33C+主机,将包装箱内的物品与装箱清单核对,若有短缺请及时与制造商联系。
ICT33C+装箱清单
ICT33C+主机----------一台
产品说明书------------一本
特殊器件测试板------一块
产品保修单------------一份
连接插针---------------两根
g. 光盘------------------------一张
h. 通讯电缆------------------一根
---------------------一根
将电源线接于仪器后部插座内,打开仪器的电源开关,此时仪器应有以下反应:
液晶显示屏显示“CHECP—”并伴有一声高音提示。
PASS指示灯﹑锁紧插座板上“数字电路”﹑“测试中”指示灯亮。仪器进入自检状态:
自检正常,有两声低音提示,显示屏显示“PLEASE”,可进行正常测试操作。
自检失败,有两声低音提示,显示“1—”数值。
自检失效时,不能进行各项操作,此时请确认以下内容:
锁紧插座上无集成电路,各种外接测试卡未连接在主机上。
锁紧插座任意两脚之间无短路线。
电源电压在规定范围内。
如果以上各点均正常,即表明仪器损坏,请及时与厂商联系。
2、产品操作部件介绍
产品操作部件名称请见图一图二,锁紧插座板的功能请见11页。
测试电压指示灯
PASS指示灯
FAIL指示灯
锁紧插座板
图一
键盘
主机
测试指示灯
保险管
微机通讯接口
220V电源插座
测试电源正极
散热孔
电源开关
图二
操作键功能
1.“0—9”键为数字键,用于输入被测器件型号、引脚数目。
2.“好坏判别/查空”键为多功能键。若输入的型号为EPROM、单片机(8031除外)器件,则它使仪器对被测器件进行查空操作;在其它型号时,它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键,则至少要在输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受;若在没有输入型号数字的时候输入该键,则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。此功能用于测试多只相同的器件。
3.“型号判别”键为功能键,用于判别被测器件的型号,在未输入任何数字的前提下才是有效。
4.“代换查询”键为功能键,用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件,至少
在输入三位型号数字后,输入该键才能被仪器接受。
5.“老化/比较”键为多功能键,用于对被测器件进行连续老化测试,至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件(8031除外)时,它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。
6.“读入”键为功能键,当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件时才有效,它将被测器件内部的数据读入到机内RAM中并保存。
7.“写入”键为功能键,与“读入”