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文档介绍：电子技术实验基础知识我国集成电路型号命名方法GB3430-89开头部分第一部分第二部分第三部分第四部分C字母数字字母字母封装器件工作温度器件的型号器件类型表示器件符合国家标准CT54S20MD多层陶瓷双列直插-55~125°C肖特基系列型号TTL电路符合国家标准例2:CT54S20MD双四输入与非门国外集成电路型号命名方法不同的公司有不同的命名方法一般由前缀字母(字头)、代表型号的数字部分、尾注字母组成不同的公司用不同的字头表示电路类型数字集成电路使用注意事项严禁电源极性颠倒!严禁带电插拔元器件!输出端不能并联使用(OC、TSL、TG门除外)TTL电路的多余输入端最好不要悬空,以免干扰侵入,特别是复位端和置位端。CMOS电路的多余输入端不允许悬空。多余输入端应根据实际需要作适当处理(接电源、接地或与有用的输入端并联)。2不相连。芯片中电源、GND没有连好,需自己接线。芯片不要乱拔或插。数据开关:10逻辑开关:提供手动脉冲。左边接线时,按下开关提供下降沿();右边接线时,按下开关提供上降沿()。数字电路实验常见问题功能失效——实验前应进行元件的功能测试器件故障接线错误最容易发生的错误如多接、漏接、错接、元件引脚未插到插座上连线过长、引脚悬空也可能引入干扰(插线不超过3层,电源、CP端加滤波电容)特性失效:如带负载能力(静态特性)、上升沿、下降沿、延迟时间等(动态特性)——专用集成电路测试仪设计错误仪器使用不正确,如示波器没有同步造成波形不稳定。测试仪器故障可先利用仪器的自检功能进行自校。测试方法错误在调试时,应采用自下而上的方法,分阶段连接调试,一步一步地进行,以便较容易地发现问题并排除故障。在设计时,通常采用自上而下的方法,将系统划分为子系统、模块,直至实现具体的单元电路。数字电路实验常见问题