文档介绍：《计算机体系结构》实验报告实验序号:04 实验项目名称:进位控制与移位运算实验学号姓名专业、班实验地点文波332指导教师杨光时间一、实验目的(1)了解带进位控制的运算器的组成结构。(2)验证带进位控制的运算器的功能。(3)了解移位发生器74LS299的功能。(4)验证移位控制电路的组合功能。二、。运算器最高位进位输出C(n+4)连接到一个锁存器(用74LS74实现)的输入端D,锁存器控制端的控制信号AR必须置为低电平,当T4脉冲到来时,进位结果就被锁存到进位锁存器中了,发光二极管这时显示为“灭”。同时也将本次的进位输出结果带进了下次的运算中,作为下次运算的进位输入。。其中使用了一片74LS299作为移位发生器,其8位输入输出端可连接至内部总线。74LS299移位器的片选控制信号为299-B,在低电平时有效。T4为其控制脉冲信号,由“W/RUNIT”单元中的T4接至“STATEUNIT”单元中的单脉冲发生器KK2上而产生,S0、S1、M作为移位控制信号,-2所示。三、实验内容与步骤1.(1)-4连接实验电路并检查无误。(2)打开电源开关。(3)用输入开关向暂存器DR1和DR2置数,方法同前。(4)关闭数据输入三态门(SW-B=1),打开ALU输出三态门(ALU-B=0),并使LDDR1=0、LDDR2=0,关闭寄存器输入控制门。(5)对进位标志清零。实验系统上“SWITCHUNIT”单元中的CLR开关为标志CY、ZI的清零开关,它为零状态时是清零状态,所以将此开关做1→0→1操作,即可使标志位清零。注意:进位标志指示灯CY亮时表示进位标志为“0”,无进位;标志指示灯CY灭时表示进位为“1”,有进位。(6)验证带进位运算及进位锁存功能。使Cn=1,AR=0,进行带进位算术运算。例如,做加法运算,使ALU-B=0,S3S2S1S0M的状态为1、0、0、1、0,此时数据总线上显示的数据为DR1加DR2加当前进位标志的和,但这时的进位状态位还没有输入进位锁存器中,它是要靠T4节拍来输入的。这个结果是否有进位产生,则要按动微动开关KK2,若进位标志灯亮,则无进位,反之则有进位。因为做加法运算时数据总线一直显示的数据为DR1+DR2+CY,所以当有进位输入到进位锁存器时,总线显示的数据将为加上当前进位锁存器中锁存的进位的结果。2.(1)-6连接实验电路并检查无误。(2)打开电源开关。(3)向移位寄存器置数。①拨动输入开关形成二进制数01101011(或其他数值)。②使SWITCHUNIT单元中的开关SW-B=0,打开数据输入三态门。③使S0=1、S1=1,并按动微动开关KK2,则将二进制数01101011置入了移位寄存器。④使SW-B=1,关闭数据输入三态门。(4)移位运算操作。-2中的内容,先将S1、S0置为0、0,检查移位寄存器单元装入的数是否正确,然后通过改变S0、