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伸展构造同沉积断层定量分析.ppt

上传人:799474576 2013/11/22 文件大小:0 KB

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伸展构造同沉积断层定量分析.ppt

文档介绍

文档介绍:生长指数、断层同沉积位移
生长构造的 d-Δd 作图分析
第五讲伸展盆地生长断层定量分析
生长指数(Expansion index)是分析生长断层(一般指同沉积正断层)生长特征的重要参数,可以通过测量同沉积断层两盘相当层的厚度后计算得出(Thorsen,1963)
同沉积断层“相当层”在上盘的厚度与在下盘的厚度之比称为该断层在相当层沉积时期的生长指数
生长指数
方法一:垂直岩层顶面测量岩层厚度:Ei=Hh/Hf
优点:简明直观,直接表现断层生长特征
缺点:受岩层厚度、剥蚀量等影响,单层厚度较小时可能误差较大
方法二:直接测量同层断层位移(落差)
缺点:下盘地层厚度为零
8
引入断层生长系数的概念可以消除部分地层下盘地层厚度为零的影响
引入断层生长速率概念可以反映断层活动性的差异
生长系数=(上盘厚度—下盘厚度)/上盘厚度
同沉积期断层落差(m) =(上盘厚度—下盘厚度)
生长速率=同沉积期断层落差(m)/顶底年龄差(Ma)
8
测线
下盘厚度
上盘厚度
同沉积期落差
生长指数
生长系数
生长速率
101
300
300
0



102
350
400
50



103
400
500
100



104
450
600
150



105
500
700
200



106
550
800
250



107
600
900
300



108
650
1000
350



109
700
1100
400



110
750
1200
450



111
800
1300
500



101
102
103
104
105
106
107
108
109
110
111
上盘
下盘
假设同沉积层持续100Ma
生长指数变化并未能反映断层生长特征