文档介绍：电子元器件检验规范标准书修订修订修订内容摘要页次版次修订审核批准日期单号2011/03/30/系统文件新制定4A/0///批准: 审核: 编制:部分电子元器件检验规范标准书IC类检验规范(包括BGA)1. 目的作为IQC人员检验IC类物料之依据。适用范适用于本公司所有 IC(包括BGA)之检验。;具体抽样方式请参考《抽样计划》。划依MIL-STD-105E,(CR):0;允收水准主要缺点(MA):;(AQL)次要缺点(MI):. ,任何有误,均不可接受。,否则不可接受。,若不同不可接目检受;,若不吻合不可接受。;,或不同规格的混装,均不可接受;,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;目检或检验时,,其面积不超10倍以上带静电带。,且未露出基质,的放大镜可接受;否则不可接受; 氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;元件脚弯曲,偏位,缺损或少脚,均不可接受;备注:凡用于真空完全密闭方式包装的 IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的, IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该 IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡 20%RH对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。(三) 贴片元件检验规范(电容,电阻,电感⋯)1. 目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。适用范适用于本公司所有贴片元件(电容 ,电阻,电感⋯)之检验。围抽样计依MIL-STD-105E,LEVELII 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。划严重缺点(CR):0;允收水准主要缺点(MA):;AQL)次要缺点(MI): 《LCR数字电桥操作指引》件《数字万用表操作指引》检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验 MA数量检验 MA外观检验 MAa. 根据来料送检单核对外包装或 LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检包装必须采用防静电包装,否则不可接受。a. 实际包装数量与 Label上的数量是否相同 ,若不同不可接受; 目检实际来料数量与送检单上的数量是否吻合 ,若不吻合不可接受。错或模糊不清难以辨认不可接受;来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;,,且未露出基质,可接受;否则不可接受;,或上锡不良,均不可接受;检验时,必须佩带静电带。检验时,。二极管类型检测方法选择数字万用表的二极管档,正向测量, LED需发出