文档介绍：MSA-测量系统分析 Measurement Systems Analysis
MSA第三版快速指南 Third Edition Fast Guide
测量系统类型
MSA方法
章
基本计量型
极差、均值和极差、方差分析(ANOVA)、偏倚、线性、控制图
三
基本计数型
信号探测、假设试验分析
四
不可重复(如破坏试验)
控制图
三、四
复杂计量型
极差、均值和极差、ANOVA、偏倚、线性、控制图
三、四
多重系统、量具或试验台
控制图、ANOVA分析、回归分析
三、四
连续过程
控制图
三
其他情况
替代法
五
其它
White papers 可在http: //www. ,aiag .org /publications/quality /
术语:
测量: 赋值(或数)给具体物以表示它们之间关于特定
特性的关系。赋值过程定义为测量过程,而赋予的值定
义为测量值
量具:用于获得测量的装置
测量系统:是用来对被测特性定量测量或定性评价的仪
器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环
境和假设的集合;用来获得测量结果的整个过程
测量数据的用途:
产品控制
过程控制
特性之间的联系
测量数据的质量:
真值
一个好的或高质量的测量具备哪些特点?
一个差的或低质量的测量具备哪些特点?
如何表征数据质量
偏倚:位置
方差:分布
测量数据变差的来源(S、W、I、P、E):
变差的普通原因和特殊原因
理想的测量系统:零方差、零偏倚和错误分类零概率;
用多次测量数据的统计特性来确定MS的质量
测量数据的变差的统计特性:
偏倚(Bias)
重复性( Repeatability )
再现性( Reproducibility )
稳定性( Stability )
线性(Linearity)
相对于公差,对零件作出错误决定的潜在因素只在测量系统误差与公
差交叉时存在,下面给出三个区分的区域;
Ⅱ
Ⅱ
Ⅰ
Ⅰ
Ⅲ
目标
此处:
Ⅰ坏零件总是坏的
Ⅱ可能作出潜在的错误决定
Ⅲ好零件总是好的
对于产品状况,目标是最大限度地作出正确的决定,有两种选择:
A、改进生产过程:减少过程变差,没有零件生产在Ⅱ区域;
B、改进测量系统:减少测量系统误差从而减少区域的面积,所有零件都在Ⅲ区,从而风险降低。
LSL
USL
测量数据的变差:
如果测量系统用于过程控制,测量系统的误差会掩盖
制造过程本来的变差
在进行过程分析之前必须先进行测量系统分析确保测
量误差在接受的范围内
在进行测量系统分析之前的概念和准备:
分辨率:测量系统检测并如实指示被测特性的微小变化的能力。被测特性根据测量值分为不同的数据组,同一数据组内的零件之被测特性具有同样的数值。
典型的,此能力的度量是看仪器的最小刻度值