文档介绍：测量系统分析
MSA
Measurement Systems Analysis
第三版
上海企航科技咨询有限公司
AIAG五大核心工具培训教材——
课程目的
目的:为评定测量系统的质量提供指南。
主要针对能重复读数的测量系统。
学员能力要求:理工科大学(专)毕业,二年工作经验,对“数理统计和概率论”有所了解。
学员职务:产品设计工程师、工艺工程师、生产管理人员、质量检验工程师。
主要内容
测量系统基础术语介绍
统计学知识补充
测量系统的策划
计量型测量系统分析
计数型测量系统分析
测量系统变异性的影响及过度调整
基础术语
测量:赋值(或数)给具体事物以表示它们之间关于特定特性的关系。
量具:任何用来获得测量结果的装置,经常用来特指用在车间的装置;包括通过/不通过装置。
测量系统:是用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合;用来获得测量结果的整个过程。
分辨力(分辨率、可读性):仪器可以探测到并如实显示的参考值的变化量。
真值:测量对象实际的值,是对象的属性。
测量系统的统计特性
理想的测量系统在每次使用时,应只产生“正确”的测量结果,但遗憾的是,这种理想的测量系统几乎不存在。
我们能做到的是让测量系统满足统计特性,并且统计特性结果是在可接受的范围内。
测量系统的精度应是过程变差和公差带中较小者的1/10。
通过适当的校准程序,测量结果能溯源至国家标准。
测量系统的策划
在设计新的测量系统时应对测量系统进行策划,无论如何,常识是任何情况下的指导。
策划应考虑“测量寿命周期”、测量系统的复杂程度、测量对象的重要性(应充分考虑FMEA)等因素。
采购时应考虑供方、随机文件包、测量系统的验收、预防性维护并制定相关作业指导书。
测量系统策划应由CFT小组共同完成。
“测量系统开发检查表”提供了所需考虑因素的指南。
测量系统的变差
与所有过程相似,测量系统的变差受随机的和系统的变差源影响,即由普通原因和特殊原因造成。为了控制测量系统的变差:
识别潜在的变差源;
排除(可能时)或监控这些变差源。
变差来源于S(标准)、W(工件)、I(仪器)、P(人/程序)、E(环境)。
TS16949对变差的控制要求
测量系统分析
为分析在各种测量和试验设备系统测量结果中表现的变差,必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划()中提及的测量系统。所用的分析方法及接收准则应与“测量系统分析”参考手册相一致(如:偏倚、线性、稳定性、重复性和再现性研究)。如经顾客批准,也可采用其它分析方法及接收准则。
TS16949对变差的控制要求
测量系统分析
为分析各种测量和试验系统测量结果存在的变差,必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划中提出的测量系统。所用的分析方法及接收准则,必须与顾客的测量系统分析参考手册相一致。如果得到顾客的批准,也可采用其他分析方法和接收准则。
测量系统分析的准备
1 计划将要使用的方法。
测量按随机顺序;
读数应估计到可得到的最接近的数字,如果可能,读数应取至最小刻度的一半。
2 评价人数、样品数量、重复读数次数。
评价人应从日常操作和将来要使用这仪器的人选出,并培训其使用相同的方法测量;
样品必须从过程中选取并代表其整个工作范围;
测量仪器的分辨力应为过程变差和公差较小者的1/10。