文档介绍:;应当指出,样品5E14,1E15和2E15的峰值强度已经乘以了3来使叙述更容易。对于最低剂量辐照的样品,样品1E13和原始样品比起来,峰位置和峰宽度的改变未被检测到。对5E13样品和更高的剂量的样品,峰值强度的持续下降和峰宽的增加可以被发现,对2E15样品,很广的峰出现,这可能意味着结晶度的下降。(008)高峰(并且也有(006)和(009)微峰)系统地转移到低角度也可以被发现。辐照剂量引起的转移的增加对于5E14和1E15是同样的,表明了现象的饱和。(008)相关峰的转移和更少程度的(109)峰的转移,和前面的通过XRD[16]的观察是一致的(对于(110)的衍射没有明显的峰转移可以被观察到)。然而,没有amorphisation是容易观察的。这个转变可以联系到沿c轴的单元格的持续扩张。辐照后的晶格参数将在精细化部分给出。袂膇这些模式的另一个重要特点对辐照达到和超过5ions的样品(102)和(103)峰到(101)峰的相对强度的相对增加(同样的结论可通过TOPAS软件对相关的积分峰区比率得到)。尤其对1E15样品,(102)衍射的强度比(101)的甚至更大。此模式特点和由Farberetal[22]模拟的-Ti3SiC2衍射模式是一致的,表明辐照后同质异像体的的存在。另外,原始样品的围绕(103),(105)和(110)衍射位置的峰的强烈的扩大在1E15样品中也可以被观察到。这些宽峰可能来自不同相衍射反应的总和。:(1)结晶程度的改变(模式强度),(2)晶格的改变(峰值的扩大和转移),(3)相变(峰值相对强度和未预料到的重大扩张)。袄另外,对于5E14、1E15和2E15的样品一些窄的无转移峰可以被发现(和原始样品处于同样角度)。对于2E15样品,这些峰比两主要宽峰更强。这意味着未受到辐照影响的少量材料对此有作用。它不会来自辐照样品的表面,这因为其他XRD分析没有显示任何非转移峰。这些峰更应产生自离子注入区下的大量材料。来自大量材料的作用对所有样品有影响但只在高辐照样品中检测到,只是由于大的转移(没有重叠)和来自辐照层的峰的低强度。羂用Kr离子(低能量)辐照的样品,衍射峰的类似变化被观察到。峰值强度降低和(008)峰转移自1E14样品开始。峰宽度的增加不如在同样剂量的Xe离子的辐照下的样品的大。这个现象证实了低能量的Kr离子和高能量的Xe离子相比诱导损伤更小。