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文档介绍：第2章。测温方式类别原理典型仪表测温范围接触式测温膨胀类利用液体气体的热膨胀及物质的蒸气气压变化玻璃液体温度计100℃~600℃压力式温度计100℃~500℃利用两种金属的热膨胀差双金属温度计80℃~600℃热电类利用热电效应热电偶200℃~1800℃电阻类固体材料的电阻随温度变化而变化铂热电阻260℃~850℃铜热电阻50℃~150℃热敏电阻50℃~300℃其他电学类半导体器件的温度效应集成温度传感器50℃~150℃晶体的固有频率随温度变化而变化石英晶体温度计50℃~120℃光纤类利用光纤的温度特性或作为传光介质光纤温度传感器50℃~400℃非接触式测温光纤辐射温度计200℃~4000℃辐射类利用普朗克定律光电高温计800℃~3200℃辐射传感器400℃~2000℃。其优点是:信号可以远传,灵敏度高,无须参比温度。当W100=,R0选用10和100两种阻值(分度号分别为Pt10和Pt100)时,铂热电阻温度测量范围为200℃~850℃,其电阻与温度的关系为: 当T≥0℃时 R(T)=R0(1+AT+BT2) 当T<0℃时 R(T)=R0[1+AT+BT2+CT3(T100)] 式中,A=×103℃1,B=×107℃2,C=×1012℃4。-2、表2-3。项目铂热电阻分度号Pt100Pt10R0/10010℃测温范围200℃~850℃允差A级:±(℃+|T|)B级:±(℃+|T|)表2-200℃℃℃180℃℃℃160℃℃℃140℃℃℃120℃℃℃100℃℃℃80℃℃℃60℃℃℃40℃℃℃20℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃℃-。图2-1所示为铠装铂热电阻的结构。图2-。在弹性范围内,压电元件产生的电荷量与作用力之间呈线性关系,即: q=kSp式中,q为电荷量,k为压电常数,S为作用面积,p为压力。图2-2为一种压电式压力传感器的结构示意图。-2压电式压力传感器结构示意图