文档介绍：WORD整理版电子元器件检验规范标准书修订日期修订单号修订内容摘要页次版次修订审核批准2011/03/30/系统文件新制定4A/0///批准:审核:编制:专业资料学****参考WORD整理版部分电子元器件检验规范标准书IC类检验规范(包括BGA)。(包括BGA)之检验。-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。划严重缺点(CR):0;(AQL)主要缺点(MA):;次要缺点(MI):,任何有误,均不可接受。,否则不可接受。,若不同不可接目检受;,若不吻合不可接受。;,或不同规格的混装,均不可接受;,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;,其面积不超2,,且未露出基质可接受;否则不可接受;,必须佩带静电带。,或上锡不良,均不可接受;,偏位,缺损或少脚,均不可接受;备注:凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。(三)贴片元件检验规范(电容,电阻,电感⋯)。(电容,电阻,电感⋯)之检验。-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。严重缺点(CR):0;(MA):;(AQL)次要缺点(MI):.《LCR数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》,任何有误,均不可接受。,否则不可接受。,若不同不可接受;数量检验MA目检实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。;,或不同规格的混装,均不可接受;目检检验时,,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;,,且未露出基质,可接受;否则不可接受;2,且未露出基质,可接受;否则不可接受;大镜带。,或上锡不良,均不可接受;检验时,。二极管类型检测方法选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极LED管不合格。注:有标记的一端为负极。选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。其它二极管注:有颜色标记的一端为负极。抽样计划说明:对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测;AQL不变。检验方法见"LCR数字电桥测试仪操作备注指引"和"数字万用表操作指引"。WORD整理版(四)。。-STD-105E,LEVELII正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。严重缺点(CR):0;(AQL)主要缺点(MA):;次要缺点(MI):.《LCR数字电桥操作指引》、《数字电容表操作指引》。,任何有误,均不可接受。,若不同不可接受;,若不吻合不可接点数受。