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扫频测试.ppt

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扫频测试.ppt

上传人:s1188831 2019/11/10 文件大小:195 KB

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文档介绍

文档介绍:扫频测试GSM上行扫频测试目的:针对上行质量很差,上行质量切换比率比例高掉话率、分配失败率高,及不可解码电平远高于正常值,怀疑存在强干扰的区域,:上行干扰即上行链路受到干扰,通过分析不能正常解码的RACH突发的平均信号电平与因上行质量恶化而触发的切换的比率随小区话务量的变化,可确定上行干扰是来自系统内,还是系统外。常用的干扰源:1。话吧***2。保密会议所使用的会议阻断器3。无线信号放大器(类似于无线放大器)以上三种情况均会造成RACH不可解码电平过高。注:当无线条件符合正常的传播模型时,只要MS信号电平高于BTS的灵敏度,BTS就可以解调出所接收到的RACH脉冲群。在没有干扰的环境下,BTS的灵敏度由噪声因子、热噪声功率等决定,不考虑衰落容限时通常为-115dBm。上行干扰和阻塞会影响BTS的最低解调电平,使它不能达到-115dBm。BTS的解调能力受到背景噪声的影响,会有所减低,一般为-100~-110dBm。分析:根据该小区的上行不解码电平分配失败率切换成功率上下行接收电平和接收质量的统计,我们怀疑XA975-2上行受到强干扰,14日对XA975-2小区进行了现场测试,在小区天线下方200米处,Tek扫频仪对该小区作了扫频,发现该小区存在较强的干扰源,该干扰源对890MHz—905MHz频段的信号均构成干扰,这时的信号底噪为-110dbm,-,如下图所示:结论:由此我们判断该小区对面的办公大楼可能使用了较强的干扰源,经和该办公大楼的工作人员询问,我们了解到该办公大楼这几天正在开会,而且他们的确使用了两个会议阻断器。1。因怀疑存在上行链路故障,我们对XA453的0面及2面进行了硬件连线检查,未发现问题,因此我们怀疑可能存在干扰。2。通过频谱仪发现XA453的2面及0面的上行底噪较高,最高的底噪为-75DBM左右,同时发现XA453的0面的下行底噪也较高,Tek扫频仪进行了干扰源查找,,我们用TEMS手机进行0面的锁频测试,H频点89在