文档介绍：--------------------------校验:_____________-----------------------日期:_____________武汉工程大学电力电子技术实验报告电力电子技术实验报告专业班级电气自动化2011级02班学号2011700023学生姓名指导教师胡卫兵学院名称电气信息学院完成日期:2013年1月2日实验一电力晶体管(GTR)、-(1)开关S1、S2打向“通”,将脉冲占空比调节电位器RP顺时针旋到底,用示波器观察1和2点间的PWM波形,即可测量脉冲宽度、幅度与脉冲周期,并计算出频率f与占空比D当S2通,RP右旋时:当S2断,RP右旋时:当S2通,RP左旋时:当S2断,RP左旋时:(2)将电位器RP左旋到底,测出f与D。(3)将开关S2打向“断”,测出这时的f与D。(4)电位器RP顺时针旋到底,测出这时的f与D。(5)将S2打在“断”位置,然后调节RP,使占空比左右。(1)输入电阻为时的开门,“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的“3”与“5”,“9”与“7”及“6”与“11”,即按照以下表格的说明连线。“”,用双踪示波器观察输入“1”与“6”及输出“7”与“11”之间波形,记录开门时间ton(含延迟时间td和下降时间tf)以及关门时间toff(含储存时间ts和上升时间tr)对应的图为:(2)输入电阻为R2=150W时的开门,关门延时时间测试将GTR单元的“3”与“5”断开,并连接“4”与“5”,调节电位器RP顺时针旋到底(使RP短接),其余同上,记录开门、关门时间。对应的图为:(3)输入加速电容对开门、关门延时时间影响的测试断开GTR单元的“4”和“5”,将“2”、“3”与“5”相连,即可测出具有加速电容时的开门、关门时间。对应的图为:(4)输入、输出电流传输比(CTR)测定电流传输比定义为CTR=输出电流/输入电流GTR单元的开关S1合向“5V”,S2打向“通”,连接GTR的“6”和PWM波形发生器的“2”,分别在GTR单元的“4”和“5”以及“9”与“7”之间串入直流毫安表,电位器RP左旋到底,测量光耦输入电流Iin、输出电流Iout。改变RP(逐渐右旋),分别测量5-6组光耦输入,输出电流,填入表5—5。,输出延时时间测试GTR单元的开关S1合向“”,将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的“3”与“5”,“9”与“7”及“6”与“11”、“8”,即按照以下表格的说明连线。用双踪示波器观察GTR单元输入“1”与“6”及驱动电路输出“14”与“11”之间波形,记录驱动电路的输入,输出延时时间。对应的图为:(1)不加贝克箝位电路时的GTR存贮时间测试。GTR单元的开关S1合向“”,将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连,再分别连接GTR单元的”2“、“3”与“5”,“9”与“7”,“14”与“19”,“29”与“21”,以及GTR单元的“8”、“11”、“18”与主回路的“4”,GTR单元的“22”与主回路的“1”,即按照以下表格的说明连线。用双踪示波器观察基极驱动信号ub(“19”与“18”之间)及集电极电流ic(“22”与“18”之间)波形,记录存贮时间ts对应的图为:(2)加上贝克箝位电路后的GTR存贮时间测试在上述条件下,将20与14相连,观察与记录ts的变化。对应的图为:,即断开“8”与“11”的连接,将“36”与“21”、“37”与“8”相连,开关S3放在“断”位置。用示波器观察“19”与“18”及“21”与“18”之间波形,将S3合向“通”位置,(即减小比较器的比较电压,以此来模拟采样电阻R8两端电压的增大),此时过流指示灯亮,并封锁驱动信号。将S3放到断开位置,按复位按钮,过流指示灯灭,即可继续进行试验。实验二功率场效应晶体管(MOSFET):