文档介绍：智能卡测试系统技术指标智能卡测试系统包含非接触式智能卡测试模块、接触式智能卡测试模块和接触式智能卡协议分析模块。非接触式智能卡测试模块技术指标要求自动化测试平台提供基于可二次开发的测试环境,提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能,基于ISO14443协议的测试环境,操作系统为WindowsXPsp3,Vistal,、TCP/IP、RS232三种通信接口,操作系统为Windows,以达到良好的驱动兼容性测试平台的开放性决定它可集成到客户自己的测试平台可以与其他接触式卡及读卡器测试套件同步运用主要功能要求模拟非接触式卡片测试仪,支持ISO14443的TypeA,TypeB,T=CL协议以及防碰撞,支持数据速率为106,212,424,828kbps支持Innovatron协议支持ISO/IEC15693协议,可选数据速率有高速和低速,采用的编码模式为1-4和1-,支持的类型有classic,light,Ultralight,UltralightC支持FeliCa协议,支持的数据速率为212-424kbps支持NFC测试,遵守NFCForum规范,支持的测试传输模式为:tag模式(tag1-tag4),读写模式,对等模式。支持的数据传输速率为106,212,和424kbps底层数据扑捉和解析即使没有任何协议封装的数据也可以展示其底层交换帧可编程参数物理参数磁场强度可调调幅指数,从0%-100%场强上升时间,0-5ms载波频率,-,0-10us逻辑参数TypeA的暂停时间范围,0-,212,424,848kbps可进行的测试电气测试可进行共振频率的测试其范围为11-24MHz可进行芯片阻抗测试,-8A/m可进行EMD测试逻辑测试自动测试其分为以下几部分:发送TypeA的指令,等待处理判断,发送TypeB的指令并接收应答(对于TypeB卡);发送TypeB的指令,等待处理判断,发送TypeA的指令等待应答(对于TypeA卡)转换磁场,等待判断,发送(A或B的指令),接收应答发送请求,等待,发送请求,重置表征监测最小的FDT逻辑测试通过API控制测试响应时间的测量(FDT,TR0,TR1)发送的标准帧发送畸形的块(错误的比特数)距离的模拟检测分离RX通道允许通信使用射频放大器传统调制比率可测触发器测试仪提供多种触发器,同步的或由外部实验设备进行同步软件开发可用元素,库,通信Dll支持的开发语言:C,C++,VB,.NET等任何支持Dll的开发语言。接触式智能卡测试模块技术指标要求自动化测试平台提供基于可二次开发的测试环境,提供测试过程底层数据和命令的自动解析和图形化显示功能,基于ISO7816协议的测试环境,操作系统为WindowsXPsp3,Vistal,、TCP/IP、RS232三种接口,操作系统为Windows,以达到良好的通讯兼容性可二次开发的测试平台,可集成到客户自己的测试平台可以与其他非接触式卡及读卡器测试设备同步运用主要功能要求支持协议ISO7816-3,T=0和T=1