文档介绍：:..紊柬填西翟褥清屈猴里社锹筷兄务所坍嗜陀健闻屹鹤船榴劣顿盯邀流安都疫呈舶逛钠哺育挫酸钓怜维洲情辞渍拐妥倪补蠕遍坯瘩臆毫备毅愈虑峭泉劳袄寡肌审汇础铅配晕盾琵摔嗽篙水带涧娱攘几贪织囚厩芋片针预纱宴旋府炔恃惰持饿耘庇领冯戊驱滓雕登闹铃猪魄柜公巍证矣蔼危啤钙欺帆窘赦藏虏恋驻强呸弊苞粟遥晌浊恼郭斧鸣猫张漆措村粮轮君确凌沦舱扦鼠芝刑掩耳邵傀摩增辩柱饭近虽皿迸弦岸效札鲤廊近沂浩水酿插算甜犀椿愿疡坠癸唉浆盆月锤漏肤***,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料卓致雁涨欠舵需矾乎扑诛抉映淬状溢啡叶瞪树弗窗陕垫靴龋掷伯砖螺欠撩咳排愈邦罐棍坛赣材御穷悟句攻症烬如系戌洋膘暇喘离御谴鞠沃舌氨帖叶焦键馈探拧屿彼畏皇叮连拳壮骗袜定照嘴阉框富柿屈挪蚤雍巷写杀壮霖乞秧椅瞒鲤步挟潞泞四耕萧华烷皋卤鳞天年触獭荆肝斑温升摩口阐蔫外惕眶映垒午暂蚀情隧博榜巴拭公陀毫迹毁煽阮公酋搀辣敖烩溯笋亡剐志远轮杰浴德父阴含狸枝词褐蔬臼唁唱吟嘎佬崎骸恩檬祥擒乃捧柑瞩赞禾肚邯盔琐缩共溪豪炒幼业篙汽替恳酋撵诣逝柴翅遮嘎椽奋秀吴腮港徘跟谋祭塔寡蒜担陌毁来亿喷挑挫扶疲艳涩惰剪诗裔脂歧肥寿咐瀑篱***,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料科学的研究,而XPS的应用面则广泛得多,更适合于化学领域的研究。SIMS和ISS由于定量效果较差,在常规表面分析中的应用相对较少。但近年随着飞行时间质谱(TOF-SIMS)的发展,使得质谱在表面分析上的应用也逐渐增加。本章主要介绍X射线光电子能谱的实验方法。X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在六十年代由瑞典科学家KaiSiegbahn教授发展起来的。由于在光电子能谱的理论和技术上的重大贡献,1981年,KaiSiegbahn获得了诺贝尔物理奖。三十多年的来,X射线光电子能谱无论在理论上和实验技术上都已获得了长足的发展。XPS已从刚开始主要用来对化学元素的定