ttl集成逻辑门的参数测试.doc

文档介绍：实验一TTL集成逻辑门的参数测试一,实验目的1,,,,,实验原理用万用表鉴别门电路质量的方法:利用门的逻辑功能判断,根据有关资料掌握电路组件管脚排列,(5V±10%).在对TTL与非门判断时,输入端全悬空,即全"1",,即逻辑"0".若将其中一输入端接地,(逻辑"1"),:现以手册中74LS20二-4输入与非门电参数规范为例,,≥3.=5V,输入端VIL=,输出端IOH=400μA低电平输出电压VOL<0.=5V,输入端VIH=,输出端IOL=≤=5V,输入端VIn=5V,输出端空载高电平输入电流IIH<=5V,输入端VIn=,输出端空载低电平输入电流IIL≤1.=5V,输入端接地,H<=5V,输入端接地,L<=5V,输入端悬空,输出端空载扇出系数NO4~8V同VOH和VOLTTL与非门的主要参数1,L(或对应的空载导通功耗PON)与非门处于不同的工作状态,(相当于输入全1),与非门处于导通状态,输出端空载时,,即PON=ICCL×,(a):输入端悬空,输出空载,VCC=<50mW,,H(或对应的空载截止功耗POFF)ICCH是指输入端接低电平,,即POFF=ICCH×.(b)(a)(c),逻辑符号及引脚排列测试方法,(b):VCC=5V,Vin=0,(),VOL8,:测量时,IOmax最大不要超过20mA,,,实验仪器与器材1,THD-4型数字电路实验箱2,GOS-620示波器3,MS8215数字万用表4,74LS20四-2输入与非门四,实验内容与步骤在合适的位置选取一个14P插座,,H的测试测试方法,.(a)ICCL测试电路(b)=ICCL×VCCPOFF=ICCH×VCC2,输出高电平VOH和输出低电平VOL的测试测试方法,(a),(b).(a)VOH测试电路(b)VOL测试电路(c)