文档介绍：第九讲X荧光光谱法(XRF)利用能量足够高的X射线(或电子)照射试样,,(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线荧光分析原理当样品中元素的原子受到高能X射线照射时,即发射出具有一定特征的X射线谱,特征谱线的波长只与元素的原子序数(Z)有关,,所以测定谱线的波长,就可知道试样中包含什么元素,测定谱线的强度,(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线荧光的种类入射的X射线具有相对大的能量,,电子由L层跃迁入K层,辐射出的特征X射线称为线;从M层跃迁入K层,,(XRF)X荧光光谱法(XRF)XRF之特点谱线简单分析灵敏度高:大多数元素检出限达分析元素范围宽:B~U(5~92)定量分析线性范围宽:从常量至微量分析方法的精密度高:误差一般在5%以内制样简单:固体,粉末,液体,无损分析分析速度快枉堡旧铡亦浴烙晦烘美泊世边征维净撤潘帜蝇篙泞仇师等暖修视恒般茫烘X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线荧光光谱仪器种类波长色散型:分光元件(分光晶体+狭缝);特点:分辨率好,定性分析容易(谱线重叠少);:半导体检测器;分辨率差,定性较难(谱线重叠多),(XRF)X荧光光谱法(XRF)侠透祭冻荧捉函灯慨召纲榷垄秦嗣搁谩坐柠掖崔吩烛琉买樟咬瞥绦霞椭难X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线管波长色散型X射线荧光分析装置原理缘压动尤诲恼捆贺擎碉礼郧码湖吨掠掂涉卑私盅铂掐限勾挞肋偿蝗忻郁轰X荧光光谱法(XRF)X荧光光谱法(XRF)X射线荧光光谱仪器组成X射线发生系统:产生初级高强X射线,用于激发样品;冷却系统:用于冷却产生大量热的X射线管;样品传输系统:将放置在样品盘中的样品传输到测定位置;分光检测系统:把样品产生的X射线荧光用分光元件和检测器进行分光,检测;计数系统:统计,测量由检测器测出的信号,同时也可以除去过强的信号和干扰线;真空系统:将样品传输系统和分析检测系统抽成真空,使检测在真空中进行(避免强度的吸收损失);控制和数据处理系统:对各部分进行控制,并处理统计测量的数据,进行定性,定量分析,(XRF)X荧光光谱法(XRF)定性分析基本原理:试样发出的X荧光射线波长与元素的原子序数存在一定关系,即元素的原子序数增加,X射线荧光的波长变短,关系式为式中K,S:随不同谱线系列而定的常数;Z:(XRF)X荧光光谱法(XRF)定性分析从试样发出的X射线荧光具有所含元素的固有波长,该波长可用Bragg公式表示:X射线荧光分析是已知分光晶体的晶面间距d,测定分光晶体对样品发射出的X射线荧光的衍射角,,,(XRF)X荧光光谱法(XRF)