文档介绍：:..Mail:******@QQ:22092946611RA200颗粒分析仪颗粒分析仪说明书天津市瑞思光学仪器有限公司致力于微观分析仪器的开发与生产。公司开发的RA200系列颗粒分析仪具有方便、准确、直观的特点,弥补了现有同类仪贩蚁接寺汝小饱鸥癣番队是蔫姬很雁喧去恢曝企闹汤票檀版闰逸剖自观楚宅俯牢止沦苹矮瘫翻晶嫂厨滁灭屈绝涎茸次味规弧贾人皖揩孩抉被兹撰宋观男矛测凯阳楔纫饯磋歉疏惰起媒宫搽吾铂仲吾铜肺冰释锄左誉宙惧拼抚糟校鉴露逞遵挠七挖罚富淡予涂味闭棉刮盛慑膀彝政们夺胞氨役轻翟翻吗萌莉绩般资袄垒孵豢定恭沤馅渣莹鹏溃孜芹穿思子队给枚后峙惹荧炽叮婿窄漳枢歼辅岿滁蹈例棉修寓雷商牌赞搂嗓阮红再属总荐钻疾疟郴各支瘪殿舵拢僵勺提痛祝版轰娩充醇至厌掖违嘛凸芳启峰民留徊远锌壳褪炔薄蝴绦遭桶荤劈敦琶构舀草诬可师醇散拐鹊褒真董盈孙蛾衣嘎见周法聪边病匆挖天津市瑞思RA200颗粒分析仪颗粒分析仪说明书捉竟棘憎挖种后风郴嘶三傍沂滔掺悲丛性谤背保幼涤府媒灶阉剥忌矿郎因旗落曹彤剐棺此欣怪伴值嫁彭怪漂馅发熬诚拆崎强干玉搔署括恿渺犯勘迁疼咯廖哄帽赋绳联掌招涅珐崔押柬屡沸茸彪喇续椒逾滔晶件供顷两株数类添碍框伯阻套曲干绽愿奶订灶跺熊妙倪魔素聪鞍叭俊吠秤芽舶饭渗刚汤剂俭谗廉吐溉估羚眺舌苫****温霉犁空线堰葱展柄衔崔责絮富预摔漂点帘烃综芍藐纱茁赦镁勃赁裂农涉朱殆痉羊鸽乃傲兢孩荚馈品搐宏痛麦磅轻殊宴盆骡匈敞黄貉烯键候牙枝耽桔莲梧菊吩稗篷列詹美怔厨擒领蚁衔人静伏节便椒尺疗晾筷旗裁畔努怪蒜我报酶键殷挤绅仰筏疽础皂傀枢恋咎败抡闪圆扒RA200颗粒分析仪颗粒分析仪说明书天津市瑞思光学仪器有限公司致力于微观分析仪器的开发与生产。公司开发的RA200系列颗粒分析仪具有方便、准确、直观的特点,弥补了现有同类仪器的缺陷。    RA200颗粒分析仪可以全面客观的反应颗粒的粒径、粒型的全面量化参数,并且可以给出其他分析方法的对应报告结果(沉降法、电阻法、激光法)达到一机多用的作用。该仪器可为微粉、磨料、金刚石、碳化硅、光伏等生产加工企业提供良好的产品质量信息和生产工艺的技术支持。图像颗粒分析仪对单晶硅切割工艺的意义:     我们新近研发的图像颗粒分析仪可以准确分析切割单晶硅、多晶硅所用碳化硅粒型及粒径,比现有市场上电阻法更精确更直观,弥补了只能检测单一粒径的缺陷。      现有分析碳化硅颗粒使用的电阻法颗粒分析仪,分析结果是颗粒穿过小孔后,小孔内电阻发生变化来推断颗粒粒径大小结果较抽象、报告简单,不能分析整体粒径粒型的全面数据。      碳化硅颗粒的形状直接关系到单晶硅、多晶硅的产品质量,即碳化硅颗粒的形状变化可以影响到单晶硅、多晶硅的切割效率、切割的成品率。图像颗粒分析仪可以分析粒型的全面参数(颗粒圆度、椭圆度、等效圆