文档介绍：材料现代分析方法试题一、基木概念题(共10题,每题5分)什么是光电效应?光电效应在材料分析屮有哪些用途?当波长为入的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?3•测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的自由表面是何种几何关系?宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宏观应力的方法有哪些?薄膜样品的基木要求是什么?具体工艺过程如何?双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品?6•图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。说明透射电子显微镜成像系统的主要构成、安装位置、特点及其作用。何为晶带定理和零层倒易截面?说明同一晶带屮备晶面及其倒易矢量与晶带轴Z间的关系。含苯环的红外谱图中,吸收峰可能出现在哪4个波数范围?陶瓷纳米/微米颗粒的红外光谱的分析样品该如何制,为什么?二、综合及分析题(共5题,每题10分)1•请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法?对于晶粒直径分别为100,75,50,25nm的粉末衍射图形,请计算由于晶粒细化引起的衍射线条宽化幅度B(设()=45°,X=)o对于晶粒直径为25nm的粉末,试计算()=10°、45°、80°时的B值。二次电了像和背散射电了像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同Z处?何为波谱仪和能谱仪?说明其工作的三种基木方式及其典型应用,并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。要分析钢屮碳化物成分和基体屮碳含最,应选用哪种电了探针仪?为什么?5•分别指岀谱图屮标记的备吸收峰所对应的基团?材料现代分析方法试题(参考答案)一、基木概念题(共10题,每题5分)什么是光电效应?光电效应在材料分析屮有哪些用途?答:光电效应是指:当用X射线轰击物质时,若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的朿缚力时,入射X射线光子的能量就会被吸收,从而导致其内层电了被激发,产生光电了。材料分析屮应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪,对材料物质的元素纟R成等进行分析。2•什么叫干涉面?当波长为入的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶血衍射线的波稈差是多少?相邻两个HKL干涉面的波稈差又是多少?答:晶面间距为出/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶血称为干涉血。当波长为入的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是n入,相邻两个(HKL)晶面的波程差是入。测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与入射线所成角度为多少?能产生衍射的晶面,与试样的白由表血是何种几何关系?答:当试样表面与入射X射线束成30°角时,计数管与入射X射线束的夹角是60%能产生衍射的晶面与试样的H由表面平行。宏观应力对X射线衍射花样的影响是什么?衍射仪法测定宋观应力的方法有哪些?答:去观应力对X射线衍射花样的影响是造成衍射线位移。衍射仪法测定宋观应力的方法有两种,一种是0°-45°法。另一种是sin2W法。薄膜样品的基木要求是什么?具体工艺过稈如何?双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品?答:样品的基木要求:1) 薄膜样品的组织结构必须和大块样品相同,在制备过程中,组织结构不变化;2) 样品相对于电子朿必须有足够的透明度;3) 薄膜样品应有一定强度和