文档介绍：第卷第期红外技术. .
年月.
面阵成像系统分辨率靶板图像的分析
英明扬,一,马冬梅
.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春;.中国科学院研究生院,北京
摘要:分析了光电成像系统不同的调制传递函数测试方法,阐述了用分辨率靶板图像进行光电成像系
统测试分析的原理,基于此方法进行了面阵成像系统的实验室测试研究。通过与斜
缝法测试的实验数据比对验证了此方法的可行性,讨论了此方法的应用范围。
关键词:光电成像系统;调制传递函数;分辨率靶
中图分类号: 文献标识码: 文章编号: .——

. . .
.,尸,,,;
.,,
: —.
.
.
..
: —, ,
引言不同测试方法的比较
调制传递函数是评价光电成像系统性能目前对的测量主要分为直接和间接两类方
的重要指标之一,它客观地反映了光电成像系统的空法,且两类方法各有利弊【。间接方法是基于傅里叶
间频率响应特性。在光学系统是线性移不变系统的前变换得到系统的的方法,主要包括针孔法、斜
提下,适用于对光学成像系统性能的评价。但在缝法和刀口法。其中针孔法问题在于针孔使信噪比过
扩展到光电整机系统性能评价时,由于光电接低,且采样不足,相对相位影响明显;斜缝法虽然避
收阵列是离散采样器件,不满足传递函数应用于线性免了针孔或狭缝造成的采样不足,同时减小了采样造
移不变系统的前提,使得用评价光电成像系统成的频域混叠影响,从而可得到更高空间频率的响应
整机性能时遇到问题。为解决成像阵列造成的特性,但后期的数据处理和计算过程非常复杂不便
空间移变问题,..在对点扩散函数做傅里叶;刀口法由于引入了微分计算,使得噪声对测量结
变换得到方法的基础上提出用平均调制传递函果的影响很大。
数评价光电成像系统的成像质量;..推导在直直接方法是直接测量系统对正弦曲线靶或条形
接测量对正弦信号响应的方法中,跟成像靶的响应以得到。直接对不同频率正弦靶的响
阵列相对位置有关的调制函数表达式; 应进行测量是符合定义的直接方法,其缺点是
..分析,用离散傅里叶变换分正弦靶的制作工艺复杂,且最后结果受靶板和
析采样系统可以避免由于目标和成像阵列相对位置成像阵列相对位置影响【。通过系统对不同频率条形
不同而引起的空间移变问题。靶成像可以得到对比度传递函数,再由式
计算出相应频率的,此方法想得到一个空间频率
收稿日期:..
作者简介:英明扬.,男,硕士研究生,主要从事光电成像系统成像质量评价。
第卷第期.
年月英明扬等:面阵成像系统分辨率靶板图像的分析.
的,需要通过叠加多个小于奈奎斯特频率的奇次
谐波频率的,这对靶板制作和数据采集系统设计
的要求都很高。实际工作中用对分辨率靶的响应代替
的尝试效果不是很好。首先分辨率靶不能提供足
够的奇次谐波频率进行计算,其次分辨率靶的频谱是
根据傅里叶变换关系得到的连续频谱而条形靶的频
谱是由傅里叶级数近似的离散频谱,这使得直接测量
分辨率靶的对比度所得到的不再满足式的条
件,所得结果自然也不准确:
:.——一
图使用空间频率为./ 的分辨率靶时的曲线
. ⋯. ,
——
./