文档介绍：公司徽标过程能力分析均值极差(X-R)控制图
双边控制限型日期 2002/12/16
地址工厂英特尔电子国际集团公司部门 QA 过程信息栏统计特性描述数据值
零件零件号 IC-098 零件描述 IC 集成电路数据重要趋势 X 图 R 图样本容量 100
图纸编号 IC-998-2r3 工程更改水平 递增趋势点数最大长度 3 3 工程规范下限(LSL)
模具模具编号 MT-098 模腔数 8 递增链数 8 11 规格中线
描述压制IC集成电路模具专用单位 mm 递减趋势点数最大长度 3 3 工程规范上限(USL)
尺寸尺寸规格 上公差 下公差 控制限 UCLx AVERx LCLx 递减链数 9 11 总和
下公差限 规格中线 上公差限 UCLr AVERr LCLr 超出控制线点数 0 0 读数均值(X)
最大值
最小值
低于下控制线点数(X) 0
高于上控制线点数(X) 0
极差均值R
D2 值(n=4)
能力指数上限(CPU)
能力指数下限(CPL)
稳定过程能力指数(Cp)
稳定过程能力指数(Cpk)
能力比率(CR)
标准偏差(n-1)
标准偏差(n)
变异(n-1)
变异(n)
性能指数(PP)
性能比率(PR)
性能指数(Ppk)
控制图表现: 数据无明显异常,请注意观察其他可能出现的非随即情况。
过程能力分析: 过程能力不足!
n 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
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