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FEI台式扫描电子显微镜Phenom.pptx

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FEI台式扫描电子显微镜Phenom.pptx

上传人:wz_198613 2021/2/27 文件大小:6.60 MB

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FEI台式扫描电子显微镜Phenom.pptx

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文档介绍

文档介绍:系统控制钮
装样间
样品杯
USB记忆棒
触摸屏
旋转手柄
系统描述:
20至24000的放大倍数
触摸屏控制
装样时间小于30秒
卓越的图像质量、简单快捷的操作方式
高质量图像
Phenom拥有20-24,000的连续放大倍数,30nm的高分辨率,以及令人惊叹的大景深,将微观世界清晰的展现在您的面前。
30秒快速成像
Phenom采用专利的真空技术,省去了大量抽真空的时间。装入样品后30秒钟内即可得到高质量图像,耗时仅为传统电镜的1/10左右,将极大的提高您的工作效率。
操作简便
Phenom创新型性的用户界面与直观的触摸屏控制,使得操作变的异常简便,用户仅需半小时培训即可操作,得到极高的图像质量。
全程导航
有了Phenom的全程导航功能,用户就能始终知道当前所在的位置。光学和电子光学低倍图像全程提供准确的参考点。通过触摸屏幕上的感兴趣的区域即可准确快捷的移动样品。
表明形貌与成份两种模式
低加速电压(5kV)反映更多表面信息。探测背散射电子,兼得表面形貌和成份信息。
高亮度长寿命CeB6灯丝
传统钨灯丝的寿命仅为40-100小时,需频繁更换。Phenom采用CeB6灯丝,使用寿命超过1500小时,免去了您频繁更换灯丝之苦,且亮度亦为钨灯丝的10倍,使得图像具有更高信噪比。
图像存档
图像保存在普通USB记忆棒中,以便进行离线分析、测量和分发。在存档屏中可查看已保存的图像,进行测量,并可另外以数字方式放大 4 倍。
远程检测
Phenom拥有远程检测功能,通过网络,专业工程师可以随时为您检测系统、答疑解难,为您提供全方位的保护。
Phenom 主操作界面
低倍SEM 导航
24x 光学导航
实际应用的完美伴侣
冶金应用
Phenom 将冶金成像带到一个新的清晰度水平。Phenom 可用来对金属作微结构分析,发现热处理后发生的变更,确定成份和应力分布。Phenom 光学彩***像可作为参考图像。对于 3D 物体的失效分析,Phenom的大景深使断裂起源和疲劳特征都能够显示出来。
纤维
Phenom结合FibremetricTM系统,能够快速分析纤维样品中的统计数据。 FibremetricTM系统是进行纤维分析和微孔分析的有力工具,使得产品开发过程从中受益。
制药行业
随着制药和化学行业临界尺寸的持续变小,光学显微镜的解析能力已不能满足需要。Phenom 分辨率达 30 nm,可为清晰地确认和比较新剂型中微粒或沉淀物的形貌。
制造工序及质量控制
Phenom 的高分辨率使工序和质量控制检查中的差错探测变得更容易。其宽泛的景深范围可以看到在光学显微镜下不可见的新物质和化合物。制造商转向更小尺寸时,由 Phenom 得到的图像可帮助得到新的加工参数。
科研实验室
由于使用简便、价格低廉,Phenom 非常适于科学研究。技术专家们在开发创新产品和系统时,可利用 Phenom 的解析能力和宽泛的景深清晰地显现新材料的特征。
成份模式 & 拓扑模式
Phenom为您提供两种成像模式:
成份模式(Full mode):同时给出样品表面形貌与成份信息,不同元素可尤其对比度分辨。
拓扑模式(Topographical mode):在图像中去除了成份不同所造成的差异,强化样品的3D信息,使样品表面的凹凸起伏等微观结构更加明晰。
成份模式
拓扑模式
PHENOMTM 应用示例
金属锡球
金属滤网
PHENOMTM 应用示例
木材
木炭
PHENOMTM 应用示例
纤维
纸张
PHENOMTM 应用示例
奶粉颗粒
海藻
项目:
放大倍数
电子光学
光学
分辨率
电子枪
加速电压
探测器
图像格式
图像分辨率
载样时间
尺寸&重量
主机
真空泵
电源
显示器
温度
湿度
电源
参数:
120x-24,000x
24x
30nm
CeB6 灯丝 (寿命1500小时)
5kV
背散射电子探测器
JPEG, TIFF
456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024,2048 x 2048
<30s
286 (w) x 566 (d) x 495 (h) mm, 50 kg
145 (w) x 220 (d) x 213 (h) mm, kg
156 (w) x 300 (d) x 74 (h) mm, 3 kg
375 (w) x 203 (d) x 395 (h) mm, kg
15℃~30 ℃
<80%RH
110-240V A