人和人之间的相处说说 [STIL――ATE和EDA之间的桥梁].docx

文档介绍：人和人之间的相处说说 [STIL――ATE和EDA之间的桥梁]

　　摘要:伴随集成电路设计标准化基础成熟,测试数据的标准化也势在必行,这就要求电子设计自动化软件供给商能够提供一个统一标准/格式的测试接口,从而替代现在我国常用的由自动化测试设备厂家针对特定ATE而开发的接口程序。本文介绍的正是符合这一特点的IEEE标准化的测试接口语言- STIL,包含它的基础结构、现在的应用情况和集成电路制造商、EDA供给商和ATE供给商三方对STIL的支持。
　　关键词:STIL; EDA; IEEE
　　1STIL介绍
　　STIL是Standard Test Interface Languagefor Digital Test Vector ,它是一个联络EDA和ATE的通用接口语言。
　　近十年来,各集成电路制造商在考虑前端设计、后端仿真,直到产生测试数据的时候全部有各自的一套步骤和相对固定的数据格式,举例来说,对于一个新的产品,要产生ATE能够识其余测试数据,必需取决于使用何种EDA工具,集成电路厂商使用何种格式的数据来仿真测试,和在最终选择那个厂家/型号的ATE来进行实测。我们能够看到,在这一过程中并没有一个统一的标准,使得各个集成电路厂商的仿真数据和ATE的测数据之间需要相互转换,而STIL的出现使这一过程变得简单而快速。
　　不论使用哪种EDA工具,全部能够经过STIL转换到各大厂家的ATE设备上使用,这种标准化的步骤有利于:
　　缩短整个从设计到测试的周期;
　　降低中间步骤,降低因为标准不一而发生错误或不兼容的可能性;
　　便于调试和维护;
　　扩大可测性设计的使用范围。
　　2STIL的构架
　　STIL的使用模型
　　图3 是一个STIL的基础使用模型和步骤。从逻辑仿真或ATPG产生STIL格式的数据,经过Manipulation工具产生后一步ATE需要的转换规则和指令,经过ATE的翻译工具/编译结合这些规则和指令就能够产生两方面的测试文件/代码:Diagnostic,测试向量文件。另外,从ATE得到的测试结果也能够以一定的格式送回到EDA段来帮助分析和调试。
　　STIL的基础构架
　　IEEE Std. 1450-1999
　　IEEE1450-1999关键包含以下3部分内容:
　　EDA环境到ATE环境的大容量的数字信号测试的向量文件的变换。
　　定义数字信号测试的向量所对应的被测元器件,pattern,format和timing。
　　产生像SCAN,BIST这么的结构测试的向量文件。
　　图4是一个500ns周期的输入信号波形在STIL中的描述。值得注意的是“0”“1”并不是通常我们了解的“低”或是“高”。在STIL里它们被称为波形变量,在实际使用的时候能够是0-9,或是a-z的任意符号。只要是在ATE能力许可的范围内,波形的种类也没有限制。
　　图5是一个500ns周期的输出信号波形,即需要ATE进行采取的信号在STIL中的描述。CompareHigh/CompareLow,CompareHigh Window/ C- ompareLowWindow分别对应高/低的时间点采样和时间段采样。