文档介绍：实 用 仪 器 分 析 实 验 报 告
X射线荧光光谱分析实验
学号：
学生某：
指导老师：
学院：
专业班级：
实验日期：
中南大学冶环学院实验中心
实 验 名 称 X射线荧光光谱分析实验
一、实验目的
（1）通过本实验，了解X射线荧光分析仪的原理和实验技术；
（2）掌握X射线荧光分析样品的制备；
（3）掌握粉末样品、薄膜样品中的元素检测方法；
（4）通过实验掌握设备的开关机；
（5）培养和提高学生的动手能力和创新能力。
二、实验原理简述
该仪器的工作原理是元素的原子受到高能辐射X射线激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：λ=K(Z− s) −2，式中K和S是常数。因此，只要测出荧光Ｘ射线的波长就可知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可进行元素定量分析。
三、实验仪器与设备
本实验是XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪是由日本岛津（SHIMADZU）公司生产，主要配置单元包括：X射线发生系统、X射线管冷却装置、分光系统、计数控制系统、数据处理软件以及其他附属配件等。该仪器广泛应用于有色冶金、钢铁、环境、化工、地矿、电子、石油、陶瓷、水泥、农业等多学科领域，它是快速进行样品全元素定性定量分析，薄膜厚度及成分分析，微区分布成像分析的重要测试手段。
其配套设备为压样机。图1和图2分别为本实验设备图。
图1 X射线荧光光谱仪（岛津XRF-1800）
四、实验步骤
（1）仪器准备
-，X-射线荧光光谱仪主机板面是否有error灯亮或电脑界面是否显示报错。
仪器的运行环境：室温：23±5℃ 湿度＜70% ，室内无明显的震动，无灰尘。
（2）样品准备
使用压样机压制样品，样品要求：
a 不受理有可能污染仪器的样品（有机样品，高挥发性物质、低熔点材料和有掉落的粉末等）和磁性样品。
b仪器元素检测X围O~U，若样品含O之前的元素（譬如C、B等），建议改用其他检测手段。
c若样品中可能含有少量贵金属，譬如Ag、Pd等，送样时需明确标注。
d粉末样品过筛200目，务必彻底干燥，送样量2g左右。
e粉末样品若出现质轻，粘样品袋等特征，需混合均匀一定比例分析纯硼酸后再送样，同时明确备注样品与硼酸的质量比。
f无需预制样的样品表面必须平整、光滑、没有瑕疵。
（3）软件操作
打开电脑桌面的“PCXRF”软件。点击“初始化”， 点击主菜单上的“Maintenance”项，点击“ponent C