文档介绍：第10卷第l期 l991年2月岩石矿物学杂志 ACTAPETROLOC~ICAETMINERALOGICA 橄榄石位错构造的扫描电子显微镜研究, 金振氏(中国地质大学,武汉) (UnlversitYofCllifornla. ChenXinhua DavisCA95616USA) 主矗词:幔源包体;橄榄石;位镨氧化缀饰法扫描电镜;背散射电子图象摄要:利用扫描电镜的背散射电子图象(BEI)对玄武岩及金伯利岩所含幔源包体中撒榄石的缀饰位错进行了研究实验结果表明位错类型和颗粒边界图象清晰,又便于观察。,对于确定显撒构造的定量参数也十分有利. 弓I 言上地幔撖揽石在高温低应力塑性流动过程中经历了复杂的培变,从而形成了一系列能反映上地幔物质变形特征的构造信息,即位错构造。国内外已经对撖揽石氧化缀饰的位错光学显微镜研究做了许多报导“。尽管这种方法以它的观测视域大、成果代表性好,制样方法简单等优点一向为广大地质学家所赏用,然而到目前为止,氧化缀饰法仅用于光学显微镜观察,其分辨率一般被限制在lm左右。当位错密度超过10。/cm。时(这个数值在金伯利岩包体、阿尔卑斯型橄榄岩、部分玄武岩中幔源包体和实验变形橄榄石中是很常见的),用这种方法仔细观察位错组态和准确铡定位错密度等显搬构造定量参数是相当困难的。虽然用透射电子显微镜可大大提高位错观察分辨率,但是透射电镜也有其观察视域过小的局限性,制样程序复杂,成本昂贵。如果以氧化缀饰的光学薄片为对象,使用扫描电镜(SEM)的背散射电子图象(BEI)法进行研究,则既能够提高位错观察分辨率,又能够保持其方法的原有优点。 Karato对背散射缱错方法做了初次报导。笔者曾经于1987年也用背散射电子图象法对中国东部和国外若干地区的高位错密度的橄榄岩包体进行了详细研究,取得了很好的效果。本文着重阐述扫描电镜的位错研究方法及其成果与光学显微镜观察结果的比较。二、实验方法实验样品分别取自中国河北省万垒县***坪、福建省明溪、台湾省澎湖列岛各地玄武岩中的幔源包体以及美国加利福尼亚州西部Gilory地区玄武岩中包体和南~Benfontein金伯利岩中包体。岩石类型主要为尖晶石二辉橄揽岩和石榴石二辉橄榄岩。岩石矿物组成以橄揽石(Fo89--92)为主,一般具有粗粒结构和碎斑结构。维普资讯 岩石矿物学杂志第l0卷{爿样过程先将橄榄岩标本磨成普通单面光片(一般为一1Omm),然后把光片放在具有恒温装置的高温炉中,在温度85O一9O0℃条件下恒温氧化一小时,自然缓慢冷却。把氧化光面部分小心粘在载玻璃片上,磨成普通光学薄片,-~tm氧化铝粉高度抛光样品表面。观察之前在抛光薄片表面喷上碳,以防止观察过程中出现电荷集中现象。实验采用JEOL~308型SEM电镜的背散射电子图象进行观察。背散射位错图象特征橄榄石位错是指晶体某一部分在应力作用下发生畸变,它具有高能量构造特征。在样品加温到900℃过程中,橄榄石(Mg,Fe)[SiO]中舶部分FeO组份经氧化而生成棕红色赤铁矿或部分磁铁矿的细粒沉淀物,偏析聚集在位错空问之中。氧化