文档介绍：测量系统分析
Measurement System Analysis
误差及能力分析
测量系统分析的目的
测量系统分析的目的是确定所使用的数据是否可靠
测量系统分析还可以:
评估新的测量仪器
将两种不同的测量方法进行比较
对可能存在问题的测量方法进行评估
确定并解决测量系统误差问题
数据的质量
数据的质量取决于从处于稳定条件下进行操作的测量系统中,多次测量的统计特性,如:假设使用某一在稳定条件下操作的测量系统对某一特定特性值进行了几次测量,如果这些测量值均与该特性的参考值(master value)“接近”),那么,数据的质量被称为“高”;同样,如果部份或所有的测量值与参考值相差“很远”,则数据的质量很“低”
描述测量数据质量的统计特性
通常用来描述测量数据质量的统计特性是某测量系统的偏倚(Bias)和变差(variance)。
被称为偏倚的统计特性指的是数据值相对于参考(基准)值的位置。
被称为变差的特性指的是数据的分布宽度。
低质量数据的原因和影响
低质量数据的普遍原因之一是变差太大
一组数据中的变差多是由于测量系统及其环境的相互作用造成的。
如果相互作用产生的变差过大,那么数据的质量会太低,从而造成测量数据无法利用。如:具有较大变差的测量系统可能不适合用于分析制造过程,因为测量系统的变差可能掩盖制造过程的变差。
有关测量数据的常见问题
什么是测量?
将一个未知量与一个已知的或已经接受的参照值进行的比较
为什么我们需要测量数据?
我们使用测量数据来判断产品是否合格,制定有关过程管理的决策。
我接受这件产品吗?
过程是很好,还是需要进行调整?
我们对测量数据有什么期望?
准确性:数据必须告诉我们真相!
重复性:重复测量必须产生同样的结果!
再现性:结果不应该受检验员的影响。
什么是测量仪器?
用来进行测量的任何仪器。
什么是检验员(或者鉴定人)?
使用测量仪器进行测量的个人或装置
有关测量数据的常见问题
测量系统:不仅指量具。
测量系统包括:人(及其培训)、过程(测量程序)、设备(量具或测量工具)、系统的控制点、及所有这些因素的相互作用。
测量总偏差:
总的观察偏差=过程偏差+测量系统偏差
测量是一个能影响所观察值的中心值和偏差的过程。
有关测量数据的常见问题
Gage R&R分析是用来分析测量系统的方法,目的是确定测量某种东西时出现的波动(误差)的大小和类型。
将“测量系统”看作是会给测量数据带来额外误差的子过程,其目的就是使用误差尽可能小的测量过程。
任何观测数据的误差,都是部件的实际误差和测量系统误差的总和。
过程变差剖析
长期
过程变差
短期
抽样产生的变差
实际过程变差
稳定性
线性
重复性
准确度
量具变差
操作员造成的变差
测量误差
过程变差观测值
“重复性”和“再现性”是测量误差的主要来源
再现性
过程变差
测量系统的规划(一)
由APQP小组根据被测量特性的重要程度确定测量系统。同时考量:
产品规范是什么?预期的过程变差是多少?需要什么样的分辨率?
量具需要怎样的操作方式?需要操作者具备哪些技能?怎样培训?
如何测量?是否人工测量?在哪里测量?零件的位置和固定是否是可能的变差来源?接触测量还是非接触测量?
测量如何被校准?校准频率?谁来校准?