文档介绍：什么是 JTAG ? JTAG 是什么意思? 什么是 JTAG ? JTAG 是什么意思? JTAG 是英文“ Joint Test Action Group (联合测试行为组织) ”的简写, 该组织成立于 1985 年, 是由几家主要的电子制造商发起制订的 PCB 和 IC 测试标准。 JTAG 建议于 1990 年被 IEEE 批准为 -1990 测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描所需要的硬件和软件。自从 1990 年批准后, IEEE 分别于 1993 年和 1995 年对该标准作了补充,形成了现在使用的 -1993 和 -1994 。 JTAG 主要应用于:电路的边界扫描测试和可编程芯片的在系统编程。 JTAG(Joint Test Action Group ,联合测试行动小组) 是一种国际标准测试协议( IEEE 兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持 JTAG 协议,如 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTA G 接口是 4线: TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO , 分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 JTAG 最初是用来对芯片进行测试的, JTAG 的基本原理是在器件内部定义一个 TAP ( Test Access Port; 测试访问口)通过专用的 JTAG 测试工具对进行内部节点进行测试。 JTAG 测试允许多个器件通过 JTA G 接口串联在一起,形成一个 JTAG 链,能实现对各个器件分别测试。现在, JTAG 接口还常用于实现 ISP ( In-System Programmable� 在线编程),对 FLASH 等器件进行编程。 JTAG 编程方式是在线编程,传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变, 简化的流程为先固定器件到电路板上,再用 JTAG 编程,从而大大加快工程进度。 JTAG 接口可对 PSD 芯片内部的所有部件进行编程具有 JTAG 口的芯片都有如下 JTAG 引脚定义: TCK ——测试时钟输入; TDI ——测试数据输入,数据通过 TDI 输入 JTAG 口; TDO ——测试数据输出,数据通过 TDO 从 JTAG 口输出; TMS ——测试模式选择, TMS 用来设置 JTAG 口处于某种特定的测试模式。可选引脚 TRST ——测试复位,输入引脚,低电平有效。含有 JTAG 口的芯片种类较多,如 CPU 、 DSP 、 CPLD 等。 JTAG 内部有一个状态机, 称为 TAP 控制器。 TAP 控制器的状态机通过 TCK 和 TMS 进行状态的改变, 实现数据和指令的输入。图1为 TAP 控制器的状态机框图。 JTAG 芯片的边界扫描寄存器 JTAG 标准定义了一个串行的移位寄存器。寄存器的每一个单元分配给 IC 芯片的相应引脚, 每一个独立的单元称为 BSC ( Boundary-Scan Cell )边界扫描单元。这个串联的 BSC 在 IC 内部构成 JTAG 回路,所有的 BSR ( Boundary-Scan Register )边界扫描寄存器通过 JTAG 测试激活,平时这些引脚保持正常的 IC 功能。图 2 为具有 JTAG