文档介绍：: .
書辛率质谱FTICR-MS 介及应用 嘤蕨 宋桂雪
审瞬 ;song.******@
jll耳戶 2012
Ition of ESI-FT-ICR-MS &
ADDlicatio ns
•质谱简介
•仪器原理
•几个基本的概念
•数据处理
• Kenrick mass defect (KMD), Van Krevelen图 ❖分子结构研究
| Ion source 卜
儿种不同的质谱
Various Forms of MS instruments
■j Mass analyser 卜
4 Detector
Uqujd Nozzle Sampling cone
clromatography
Ions
电喷雾
Electrospray ionization (ESI)
Pulsed laser
Pulsed laser
a
Reflector time-of-fight (TCF)
TOF
Sample plate
反射式(Reflector)TO F检测器
串联飞行时间质谱仪
Time-of-flight
time-of-fight (TCF-TOF)
TOF2
Collision cell
Triple quadrupole or linear ion trap
Um
VpH
:p
n-
:干
Qj
Q \口2
三重四级杆质谱/线性离子腓
TOF
IIIIIHI
四级杆TOF
Reflector
|
Quadrupole time-of-flight
Matrix-assisted laser desor ptioiVio nizstio n (MALDI)
Fourier transform ion cyclotron resonance mass specuomeiei (FT-MS)
e
Ion trap
Extraction grid
111 叫
川&^ """A
基质辅助激光解吸电离MALDI
Qi
离子阱质谱
丨丿
n
Super con ducting
1 1
magnet
1 / ■ t ■
1、
-E
1
Aebersold and Mann (2003 Nature 422,19
ABI ESI QSTAR Elite MS System 四极杆-飞行时间
Bruker APEX Tesla
ESI FT-ICR MS System
T傅立叶变换离「回旋
共振质谱仪
ABI nano-UPLC ESI
QTRAP-4000 MS system
UPLC-纳电喷雾源
线性离子阱质谱仪
Waters CapLC-ESI
QTOF Micro MS System
笔细管色谱■电喷雾电离・
TOF质谱
超高分辨率■傅立叶变换
离子回旋共振■质谱仪
Ultrahigh resolution FTICR-MS
❖ 1974 年 Melvin B. Comisarow, Alan G. Marshall 发明
•:・分辨力（Resolving power >600,000）,高精度（high precision,
error< 1 ppm）和高稳定性
•灵敏度：飞克级別，毫微微克级別
❖质量分析范围20 D〜10,000 D
❖离子化：电喷雾和MALDI
・：・有机化合物，元素有机化合物，生物大分子（如蛋白、多肽等）及合成聚 合物的元素组成、分子量和分子结构测定等
・：・省略样品分离，直接质谱测定
❖超导磁体：, , , 12, ..…Tesla ? （Tesla磁通量单位）
❖利用FT-ICR-MS/MS串联质谱，可方便用于结构分析
母离子可以利用CAD （碰撞激发解离）或ECD （电子捕获解离）解离， 研究蛋白质多肽、有机物（合成、机理）、原油分析、天然有机物分析、 制药等。
FT-ICR MS 构图
-Apollo II Source
・-Improved sensitivity (>10 x)
-Very robust,
-L