文档介绍：± % 超高的精度最大 1,000mm 长距离测量 LK-G 系列超精确/高精度/长距离 D D 激光位移传感器总目录 50kHz 超快的速度 μ m 超高的再现性 2 LK-G500/505 超长距离 LK-G400/405 长距离 LK-G150/155 中等距离 LK-G80/85 多用途测量距离再现性 2 μ m 250 至 1 000mm 2 μ m 300 至 500mm μ m 65 至 95mm μ m 110 至 190mm LK-G 系列一览无与伦比的规格实现了高精度并解决了已往不可能的应用问题。边缘切割技术和多种传感头为任何应用提供了惊人的性能。 3 LED 基板检查机的聚焦调整测量板的厚度测量焊料喷嘴的高度测量 PCB 的变形测量压电驱动器的振动调整 HDD 手臂的装配光头的聚焦调整半导体/LCD 电子/电气部件 OA/ 媒体硅芯片厚度的不规则性应用检测晶片的位移 4 汽车/运输调整内倾/外倾角测量液体密封剂的高度测量转动盘片的偏转金属测量钢板的厚度/宽度焊接流程的高度控制钢板双层送料检出塑料/橡胶/薄膜测量聚氨酯泡沫的高度测量薄膜的厚度厚度测量/监控胶片的弯曲 5 超高的再现性 LK-G30/35 高精度 LK-G10/15 超精确 μ m 25 至 35mm μ m 9 至 11mm 50kHz ± % μ m 一体化控制器 LK-G3001 ( P ) V 独立控制器 LK-G3001 ( P ) 显示面板 LK-GD500 全新设计的带有嵌入式显示和数据存储的多功能控制器 P .6-7 P .8-9 无与伦比的技术力使得产品规格达到了最高水平。先进的产品规格超快的速度超高的精度全新开发的算法确保了测量物体时的高精确性, 而使用传统的检测法很难做到这一点。全新开发的算法半透明物体 RPD 算法透明物体多重 ABLE 控制多重反射 MRC 算法 6 ABLE D ABLE 可以对激光发射时间、激光功率以及增益( CCD 放大系数)这三种要素进行智能控制。*ABLE= 活动平衡激光控制引擎在精确度,速度和灵敏度方面具有更高层次的表现。 D* 在长距离上对反射光的精确接收是达到高精度的关键。 KEYENCE 修改了机壳设计并开发了三角切割技术,降低了滤光镜表面的反射。三角切割技术可用三角切割与传统产品的比较不可用三角切割 D 体现高性能的先进技术高精度物镜单元结合了感测头的高精度 Ernostar 物镜能够实现高精度高稳定性的测量。 D 有数字输出每个像素的特点,因此在像素边缘产生的渐进输出所造成的错误会影响精确度的进一步提高。 KEYENCE 开发了一种 Li- CCD 作为对策,D 能够以一个像素输出反射光的位置,在精确性方面极为出色,是传统型号的两倍。此外,传感器还使用了专门的设计,速度和灵敏度分别是传统型号的 25 倍和 10 倍* D= D 它减少了像素边缘误差,精确度是传统型号的两倍之多。高精度物镜单元减少像差造成的误差 KEYENCE 设计了一种新型的光线接收单元,用于将接收光聚集到 Li- CCD 上。该全新研制的高精度 Ernostar 物镜极大地减少了因像差所造成的光点扭曲。此外,它还采用了整合感测头和物镜的专用模铸外壳,具有极强的硬度。高精度 Ernostar 物镜光学系统由四个物镜组成,其特点是像差非常小。通过其优秀的成像性能, 可以将不同角度的光线集中在一点上。目标物其测量原理就是使用了三角形测量法。反射光在 D 上的位置随着目标物位置的改变而改变,通过检测该变化就可以测量物体的位移量。实现高精度测量的 D 的原理在像素的中央接收到光线在像素边缘附近接收到光线由相邻像素接收光线 7 检测 HDD 的偏转测量硅晶片的厚度控制分配器的喷嘴高度测量轮胎形状 1000mm 的长距离测量常规型号的 倍三角切割技术实现了在长检测距离上的高精度测量,而常规型号很难做到。 7 种传感头满足了惊人的测量范围,从 9 到 1000mm , 同时满足了多种需求。 50kHz 的超高采样速度比传统型号快 25 倍的高速采样是 D 的一大特色。由专用波形处理器(数字信号处理器)对发自 D 的信号进行高速数字处理,能够满足高速测量和高精度测量的要求。可以对高速移动, 高速转动或高速振动的物体进行可靠的测量。 KEYENCE 对光学系统进行重新设计,以实现高精度的测量。 Ernostar 光学系统和 D 的结合能够产生极为出色的线性特性。它精确地聚焦/ 检测到来自目标的反射,以此提供两倍于常规型号的精度。因此, LK-G 系列被设计用于产品小型化和高精度测量。± % 的高精确度整合在感测头中的 CPU 能够把发至