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计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统.ppt

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计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统.ppt

上传人:AIOPIO 2021/10/10 文件大小:1.08 MB

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文档介绍

文档介绍:计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
TECHFAITHWIRELESS
NEC EVALUATION
PRT LAB 测试标准
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
实验室具有行业权威的,科学完整的通信终端产品可靠性测试程序/标准。同时实验室保持了测试技术与手机技术的同步发展,并关注市场客户对于质量需求的变化,不断完善和开发测试系统,确保产品具备稳定可靠的质量而快速进入市场,真正让客户满意。
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
可靠性测试
PRODUCT RELIABILITY TEST
结构耐久测试
MECHANICAL ENDURANCE TEST
表面装饰测试
DECORATIVE SURFACE TEST
加速寿命测试
ACCELERATED LIFE TEST
气候适应性测试
CLIMATIC STRESS TEST
特殊环境测试
SPECIAL STRESS TEST
其它条件测试
ADDITIONAL STRESS TEST
Version:
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
样品数量:8/10台
测试周期:天
测试目的:
通过有顺序地施加温度剧变、 跌落、静电、振动等高于实际环境的连续环境压力,使样品材料的物理性能、化学性能发生快速的退化,从而加速样品的寿命,以达到在短时间内发现产品设计可靠性弱点的目的。
1 加速寿命测试(Accelerated Life Test)
Vibration
Sine,1hr/axis
Temp/Humidity
60° C /95%RH
Parametric Test
(20~25° C)
Thermal Shock
-40° C /80° C
1st Drop
6/12 faces /
2nd Drop
6/12 faces /
ESD 6Kv contact/ 13Kv Air
Parametric Test
(20~25° C)
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
测试条件:
高温:+80 ° C 30 min
低温:- 40 ° C 30 min
测试周期:27 cycles; 27hrs
测试曲线:
° C
+80
t
-40
潜在问题:结构失效和强度下降
. 加速寿命测试 (ALT )
Vibration
Sine,1hr/axis
Temp/Humidity
60° C /95%RH/60hrs
Parametric Test
(20~25° C)
Thermal Shock
-40° C /80° C /60min/27cycles
1st Drop
6/12 faces
2nd Drop
ESD
6Kv contact/ 13Kv Air
Parametric Test
(20~25° C)
高低温冲击测试
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
1. 加速寿命测试 (ALT )
Vibration
Sine,1hr/axis
Temp/Humidity
60° C /95%RH/60hrs
Parametric Test
(20~25° C)
Thermal Shock
-40° C /80° C /90min/27cycles
1st Drop
2nd Drop
ESD
6Kv contact/ 13Kv Air
Parametric Test
(20~25° C)
测试条件:20~25 ° C
测试周期:1cycle
测试方法:
高度:
地面: 20mm厚大理石
方法: 开机,插卡, 6/12 面
跌落顺序:
直板及翻盖手机为: Left, Back, Right, Bottom, Top Front
滑盖手机为: Bottom, Top, Back, Front, Left, Right
第一次跌落
计算机软件及应用结构测试标准-PRT测试系统
1. 加速寿命测试 (ALT )
Vibration
Sine,1hr/axis
Temp/Humidity
60° C /95%RH/60hrs
Parametric Test
(20~25° C)
Thermal Shock
-40° C /80° C /9