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LED CHIP IQC检验规范
CHIP FQC检验规范。
，以确保产品质量达一定水平
范围
本公司生产之所有LED产品均属之。
内容

光电性检验
外观检验
数值标示检验。
(片数定义：芯片片数)
依「产品检验抽样计划」(WI-20-0101)抽片执行检验。
光电特性检验(Vfh、Vfl、|v)
抽样位置：分页片边缘4颗，分页片内围6颗，均匀取样。
抽样数量：每片10颗。
每片抽样数，每一颗不良，则列一个缺点。
外观检验
PS TYPE不良晶粒〉2ea/ shee，列入一个缺点。
NS TYPE或PS TYPE分页面积最长距离V cm者，不良晶粒〉
5ea/sheet,且〉10 ea/wafer 列入一个缺点。
缺点项目之限样标准由制造、FQC两单位共同制作，作为人员检验之依据

主要缺点代字：MA (Major )。
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次要缺点代字：Ml (Minor )。

本公司产品目录规格书
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342 研发工程产品测试分类规格
343 其它相关之质量文件
光电特性检验

，须低于规格上限。
GaP、GaAsP、AIGaAs产品T/S前测站
作业指导书。
：MA

依特定之额定电流点测，须高于规格下限，低于上限。
规格：GaP三 , GaAsP三 , AIGaAs （三 Vfl 三）, IR
（~ V）。
缺点等级：Ml
亮度 Iv / Po
，须高于规格下限。
规格下限应参考测试分类规格及各产品 T/S前测站作业指导书判定。
缺点等级：MA
外观检验（共同标准）
检验项目
说明
图示
缺点等级

2 mil
UR同一芯片晶粒厚度差三 3 mil
□匸
MA

，不得有任何异常（不含刮伤）
电极
VVR/3
MA
、铝泡（金泡）、非化学药水污染（沾胶、杂物、硅胶粒、Ink…）、重工造成之金属残印子（如残钛）面积应三1/5原电极面积。
MA
PS应三1/5原电极面积
材质：AlGaInP适用
MA
：©V
O
MA