文档介绍：GB/TXXXXX—XXXX/ISO/TS 20660: 2019
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附录A
（资料性）
抗菌银纳米颗粒的测量方法
表给出了基本特征的测量方法。
基本特性的测量方法
特性方法指南
初级颗粒 TEM TEM 是电子束投射样品上形成图像的一种显微技术。样品通常制
的平均尺成厚度小于 100 nm 的超薄切片或栅格上悬浮物。当电子束投射到
寸及尺寸样品上时，电子与样品发生相互作用形成图像。然后将图像放大并
分布聚焦到荧光屏、胶片层或传感器（如电荷耦合设备）等成像设备上。
它与 EDS 相结合，广泛应用于元素分析和化学分析。ISO/TS 10797
中提供了该方法和样品制备过程的应用指南。
[来源：ISO/TS 12805，有修改]
SEM SEM 是聚焦电子束扫描样品表面形成图像的一种电子显微镜。电
子与样品中的原子相互作用，产生包含样品表面形貌和成分信息的
各种信号。电子束作光栅模式扫描，其位置与检测信号相结合生产
图像。SEM 可达到优于 1 nm 的分辨率。在常规 SEM 的高真空条
件中，或在变压或环境 SEM 的低真空或潮湿环境下，以及在低温
或高温的大范围内使用专用仪器，都可对样品进行观察。ISO 16700
和 10798 中提供了该方法和样品制备过程的应用指南。
[来源：ISO 16700，有修改]
zeta 电位 ELS zeta 电位是滑移面（颗粒周围的液体分子相对于表面