文档介绍：椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告
椭偏仪测量薄膜厚度与折射率实验报告
组别:69组院系:0611 姓名:林盛学号:PB06210445
实验题目:椭偏仪测量薄膜厚度与折射率
实验目的:了解椭偏仪测量薄膜参数的原理,初步掌握反射型椭偏仪的使用方法。
实验原理:
椭圆偏振光经薄膜系统反射后,偏振状态的变化量与薄膜的厚度与折射率有关,因此只要测量出偏振状态的变化量,就能利用计算机程序多次逼近定出膜厚与折射率。参数描述椭圆偏振光的P波与S波间的相位差经薄膜系统关系后发生的变化,描述椭圆偏振光相对振幅的衰减。有超越方程:

为简化方程,将线偏光通过方位角的波片后,就以等幅椭圆偏振光出射,;改变起偏器方位角就能使反射光以线偏振光出射,,公式化简为:

这时需测四个量,即分别测入射光中的两分量振幅比与相位差及反射光中的两分量振幅比与相位差,如设法使入射光为等幅椭偏光,,则;对于相位角,有:
因为入射光连续可调,调整仪器,使反射光成为线偏光,即
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=0或(),则或,可见只与反射光的p波与s波的相位差有关,可从起偏器的方位角算出、对于特定的膜, 就是定值,只要改变入射光两分量的相位差,肯定会找到特定值使反射光成线偏光, =0或()。
实验仪器:椭偏仪平台及配件、He-Ne激光器及电源、起偏器、检偏器、四分之一波片、待测样品、黑色反光镜等。
实验内容:
按调分光计的方法调整好主机。
水平度盘的调整。
光路调整。
检偏器读数头位置的调整与固定。
起偏器读数头位置的调整与固定。
波片零位的调整。
将样品放在载物台中央,旋转载物台使达到预定的入射角70即望远镜转过40,并使反射光在白屏上形成一亮点。
为了尽量减小系统误差,采用四点测量。
将相关数据输入“椭偏仪数据处理程序”,经过范围确定后,可以利用逐次逼近法,求出与之对应的d与n ;由于仪器本身的精度的限制,可将d的误差控制在1埃左右,n的误差控制在0、01左右。
实验数据:
实验测得数据如下:
波片放置角度
—
n
1
2
3
4
A()
96、5
86、0
87、9
98、8
P()
170、7
84、7
190、8
101、5
(注:试验中,对于角度大于180度,计算时减去180度。)
将表格中数据输入“椭偏仪数据处理程序”,利用逐次逼近法,求出与之对应的厚度d与折射率n分别为:
椭偏仪测量薄膜厚度和折射率实验报告
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误差分析:
实验测得的折射率比理论值偏大,厚度比理论值偏小,其可能原因有:
待测介质薄膜表面有手印等杂质,影响了其折射率。
在开始的光路调整时,没有使二者严格共轴,造成激光与偏振片、1/4波片之间不就是严格的正入射,导致测量的折射率与理论值存在偏差。
消光点并非完全消光,所以消光位置只能由人眼估测,所以可能引入误差。
由于实验中需多次转动及调节、安装仪器,