文档介绍：当薄膜上、下表面的反射光都存在(cúnzài)或都不存在(cúnzài)半波损失时，其光程差为:
当反射光之一存在(cúnzài)半波损失时，其光程差应加上附加光程 /2 ,即：
等厚干涉(gānshè)条纹
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劈尖：薄膜的两个表面是平面(píngmiàn),其间有很小夹角。
2. 劈尖膜
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劈尖干涉光程(ɡuānɡ chénɡ)差的计算
=2ne
n
·
A
反射光2
反射光1
入射光(单色平行(píngxíng)光垂直入射)
e
空气(kōngqì)介质
+/2
当光从光疏介质入射到光密介质的表面反射时
劈 尖 膜
B
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劈尖明暗(mínɡ àn)条纹的判据
当光程差等于(děngyú)波长的整数倍时，出现干涉加强的现象，形成明条纹；当光程差等于(děngyú)波长的奇数倍时，出现干涉减弱的现象，形成暗条纹。
明纹
暗纹
劈 尖 膜
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……
劈尖干涉(gānshè)条纹的特征
（1）明、暗条纹(tiáo wén)处的膜厚：
一系列明暗相间的、平行于棱边的平直(pínɡ zhí)条纹。
劈 尖 膜
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劈尖干涉(gānshè)条纹的特征
（2）相邻明纹（或暗纹）所对应(duìyìng)的薄膜厚度之差
e = ek+1-ek
= (2k+1)/4n - (2k-1)/4n
= /2n
相邻明纹（或暗纹）所对应的薄膜厚度(hòudù)之差相同。
e k
ek+1
e
明纹
暗纹
劈 尖 膜
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劈尖干涉(gānshè)条纹的特征
（3）两相邻(xiānɡ lín)明纹（或暗纹）的间距
结论：
(jiān jù)分布
越小，条纹越疏；反之则密。如过大，条纹将密集到难以分辨，就观察不到干涉条纹了。
L= e/sin
≈ e/
≈ /2n
L
e
明纹
暗纹
L
e
劈 尖 膜
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劈尖干涉(gānshè)条纹的特征
劈尖干涉(gānshè)条纹是一系列明暗相间的、等间距分布的、平行于棱边的平直条纹。
劈尖干涉(gānshè)条纹
劈 尖 膜
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例1 在半导体元件生产中，为了测定硅片上SiO2薄膜的厚度，将该膜的一端(yīduān)腐蚀成劈尖状，已知SiO2 的折射率n =，用波长 =5893埃的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M处，。试求SiO2薄膜的厚度。
Si
SiO2
O
M
解：由暗纹条件(tiáojiàn)
e = (2k+1) /4n
= 2ne
= (2k+1） /2 (k=0,1,2…)
知,第9条暗纹对应(duìyìng)于k=8,代入上式得
= (m)
m。
劈 尖 膜
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例2 为了测量金属细丝的直径，把金属丝夹在两块平玻璃之间，形成劈尖，如图所示，如用单色光垂直照射 ，就得到等厚干涉条纹。测出干涉条纹的间距(jiān jù)，就可以算出金属丝的直径。某次的测量结果为：单色光的波长 ==，,求金属丝的直径D？
L
D
劈 尖 膜
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