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数字实验测试方法-操作规范-故障检查方法.doc

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数字实验测试方法-操作规范-故障检查方法.doc

上传人:xxj16588 2016/7/26 文件大小:0 KB

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文档介绍

文档介绍:一、数字集成电路概述、特点及使用须知(一)概述当今,数字电子电路几乎已完全集成化了。因此,充分掌握和正确使用数字集成电路,用以构成数字逻辑系统,就成为数字电子技术的核心内容之一。集成电路按集成度可分为小规模、中规模、大规模和超大规模等。小规模集成电路( SSI )是在一块硅片上制成约 1~10 个门,通常为逻辑单元电路,如逻辑门、触发器等。中规模集成电路(MSI )的集成度约为 10~100 门/片,通常是逻辑功能电路,如译码器、数据选择器、计数器、寄存器等。大规模集成电路(LSI ) 的集成度约为 100 门/ 片以上,超大规模( VLSI )约为 1000 门/ 片以上,通常是一个小的数字逻辑系统。现已制成规模更大的极大规模集成电路。数字集成电路还可分为双极型电路和单极型电路两种。双极型电路中有代表性的是 TTL 电路;单极型电路中有代表性的是 CMOS 电路。国产 TTL 集成电路的标准系列为 CT54/74 系列或 CT0000 系列,其功能和外引线排列与国际 54/74 系列相同。国产 CMOS (CH)4000 系列,其功能和外引线排列与国际 CD4000 系列相对应。高速 CMOS 系列中, 74HC 和74HCT 系列与 TTL74 系列相对应, 74HC4000 4000 系列相对应。部分数字集成电路的逻辑表达式、外引线排列图列于附录中。逻辑表达式或功能表描述了集成电路的功能以及输出与输入之间的逻辑关系。为了正确使用集成电路,应该对它们进行认真研究,深入理解,充分掌握。另外,还应对使能端的功能和连接方法给以充分的注意。必须正确了解集成电路参数的意义和数值,并按规定使用。特别是必须严格遵守极限参数的限定,因为即使瞬间超出,也会使器件遭受损坏。下面具体说明集成电路的特点和使用须知。(二)TTL 器件的特点 ,减少了反射干扰的影响; ,增强了带容性负载的能力; ; +5V 的电源供电。为了正常发挥器件的功能,应使器件在推荐的条件下工作,对 74LS 系列(CT0000 系列)器件,主要有:(1 )电源电压应 ~ 的范围内。(2) 环境温度在0 0C~70 0C之间。(3)高电平输入电压V IH>2V,低电平输入电压V SL< 。 74系列 TTL 集成电路输出低电平≤ ,输出高电平≥ 。(4)输出电流应小于最大推荐值(查手册)。(5)工作频率不能高,一般的门和触发器的最高工作频率约 30MHZ 左右。 TTL 器件使用须知: 1 .电源电压应严格保持在 5V±10% 的范围内,过高易损坏器件,过低则不能正常工作,实验中一般采用稳定性好、内阻小的直流稳压电源。使用时,应特别注意电源与地线不能错接,否则会因过大电流而造成器件损坏。 ,虽然悬空相当于高电平,并不能影响与门(与非门)的逻辑功能,但悬空时易受干扰,为此,与门、与非门多余输入端可通过一个公用电阻(几千欧)连到上, 或直接接到逻辑电平开关上设置为高电平值。若前级驱动能力强,则可将多余输入端与使用端并接;不用的或门、或非门输入端直接接地,与或非门不用的与门输入端至少有一个要直接接地,带有扩展端的门电路,其扩展端不允许直接接电源。