文档介绍：Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍
CgK, Cmk, Ppk, Cpk 应用技术
编制：刘高树 2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍
CgK 检测设备能力指数介绍：
1).评估一个测试仪器的测量能力是否和被测产品的公差要求相匹配的方法，
是短期的检测设备能力指数
2).用高一级精度的测量仪器来确定校准标本真实的尺寸。
这个标本的实际数值应尽可能地与将要测量的测量项次的目标值趋于一致。
如果没有合适的参考测量仪器或对测量结果的正确性明显存在怀疑，那么就只能测定Cg值。
3).用同一仪器在确定的测量位置上必须在相同条件下重复对样本进行至少25次
（一般情况为50次）的测量。
4).用这组数据计算出：平均值或平均值偏移值，标准差S
5).确定被测产品的公差范围 T=USL-LSL
6).Cg=
7).Cgk=min｛［(基准值+)-测量的均值］/3s：［测量的均值-(基准值-）］/3s }
或Cgk = ( x 被测产品的公差范围 - 平均偏移值的绝对值) / (2 x标准差)
8).Cgk 一般接受的标准是 >=
通常， Cgk 要在做测量系统的 GRR 以前就要评估好。如果一个测试仪器的Cgk 太小，它就
不能用于这个产品性能的测量。
9). 至于Cgk的公式，各个公司公式可能不同，有公司采用3S，也有采用2S
编制：刘高树 2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍
Cmk 机械设备能力指数介绍：
1).评估一个机械设备稳定性(验收设备)，是短期的机械设备能力指数；
(强调设备本身因素的影响，是针对机械设备，而不是针对机械的零件)
2).做Cmk时，人员、原材料、加工方法、测量系统，生产模具不能发生改变是前提条件生
产件做抽样监测，主要目的是探测出初期制程或新工艺或新产品投入生产时可能存在特殊
因素造成的影响程度。
3).用同一仪器在确定的测量位置上必须在相同条件下量测25个连续生产样件对应数据值
（一般情况取50个样件）的测量值。
4).用这组数据计算出设备存在的变差：平均值或平均值偏移值，标准差S
5).确定被测样件的公差范围 T=Usl-Lsl
6).Cm=T/6s
7). 计算公式：
Cmu = (Usl-Mean)/(3*s) Cml = (Mean-Lsl)/(3*s)
Cmk = min(Cmu, Cml)
8). Cmk 一般接受的标准是 >=
编制：刘高树 2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍
Ppk 制程能力指数介绍：
1).评估一个制程或工程的稳定性，是短期的制程能力指数；
(包括：4M机械设备，人员，材料，方法，环境，检测设备等)
2).做Ppk时，人员,原材料,加工方法,测量系统,生产模具,作业环境等都是在刚刚投入条件下生
产件做抽样监测，主要目的是探测出制程可能存在除了普通原因以外，还有特殊原因引起
的变异，造成的影响程度；
3).在短期阶段或初期阶段(新产品量产前内，抽取相同制程且一定数量的样件量，测需要的
特殊特性数值(一般：n>=50个数据，最好n>100个数据)
4).用这组数据计算出制程存在的变差：平均值u，标准差s
5).确定被测样件的公差范围 T=Usl-Lsl
6). Pp=(Usl-Lsl)/6s
7). 计算公式：
2、Ppk = min{(Usl-u)/3s ,(u-Lsl)/3s }
注释：Usl为上规格线，Lsl为下规格线，u为实际测得的平均值
8). Ppk 一般接受的标准是 >= ； Ppk只能反映过程的过去。
编制：刘高树 2009/12/22～24
Cgk, Cmk, Ppk, Cpk能力指数介绍
Cpk 制程能力指数介绍：
1).评估一个制程或工程的稳定性，是长