文档介绍：X- 射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅的测量不确定度评定鲍希波石毓霞( 邯钢技术中心,邯郸 056015) 摘要: 针对 X- 射线荧光光谱法(XRF) 测定硅铁合金中 Si 的测量不确定度来源进行了详细的分析,对 XRF 法测定硅铁合金中 Si 的结果的测量不确定度进行了仔细的评定, 最终给出了扩展不确定度。关键词: X 射线荧光光谱法;测量不确定度;硅铁合金理化检验工作中,制约分析测试结果准确度的因素主要包括检测方法、标准物质、仪器设备、试剂、操作者水平等, 多年来分析检验工作者们对这些因素的作用机理以及如何有效消除或降低影响的研究从没间断过, 并获得了有益的结果。多种制约因素的客观存在使分析测试工作永远不能穷尽测量值与真值之间的差异, 因此产生误差这一概念用来表达测量结果的可靠程度, 误差愈大, 可靠性愈低, 反之亦然。随着近年来对分析结果制约因素的深入研究,误差已不能准确客观表达测量工作的受阻和制约情形,于是一个新的概念" 不确定度(Uncertainty)" 被提出来了, 不确定度这一概念对于我们许多分析检验人员来说还是比较陌生的, 但又是我们必须尽快熟悉的, 在今后的工作中, 不确定度将会越来越多的出现, 而误差的概念将逐渐被谈忘。 JJF1059-1999 给出了测量不确定度定义是“表征合理地赋予被测量之值的分散性,与测量结果相联系的参数”。不确定度越小,则测量结果的可疑程度越小,可信程度越大,测量结果的质量越高, 水平越高, 其使用价值越高, 反之亦然。测量不确定度根据评定方法的不同区分为 A 类标准不确定度和 B 类标准不确定度。前者是用对观测列的统计得出的不确定度, 后者是不同于观测列的统计得出的不确定度, 即根据许多已知信息来评定的标准不确定度。各因素引起的输入量的不确定度分量( 包括 A 类和 B类) 评定以后,根据不确定度传播定律, 对各分量进行合成, 从而得到合成标准不确定度, 再按所确定的置信概率将合成标准不确定度乘上包含因子, 从而得到扩展不确定度, 有时也称为展伸不确定度或范围不确定度或总不确定度。邯钢理化检验分析工作中, X- 射线荧光光谱法测定铁矿石、耐火材料、铁合金等冶金材料化学成分已经被广泛应用。然而在 X 射线荧光光谱法的测量不确定度评定方面还处于探索阶段。 ISO/IEC 指南 25: 1990 《校准与测试实验室资格的通用要求》中指出, 实验室的每个证书或报告, 必须含有评定标准或测试结果不确定度的说明。 GB/T19001 《质量管理和质量保证》中规定, 对所用设备的测量不确定度应是已知的。以使报告使用者了解结果的可靠性,同时也使 X 射线荧光光谱法的测量结果与其他方法的测量结果具有可比性。根据国际标准化组织 19935 年发布公布于世的《测量不确定度表示指南》(GUM) 国际标准, 中国国家质量技术监督局已于 1999 年发布了 JJF1059-1999 《测量不确定度评定与表示》[1] 计量技术规范,近年来测量不确定度的评定在理化检验中越来越受到重视[2-4] 。本文根据 X 射线荧光光谱法测量硅铁中硅含量的方法特点,经分析列出测量不确定度来源, 建立数学模型, 并进行分量评定, 计算合成标准不确定度, 评定扩展不确定度, 最后完成不确定度报告,从而获得较为完整的定量分析报告。 1 实验部分